CUD100數(shù)字超聲波探傷儀
CUD100數(shù)字超聲波探傷儀功能特點(diǎn):
1) 采用 TFT 工業(yè)彩色液晶顯示屏(320x240,5.7 英寸),LED 背光燈,省電,壽命長,可靠。
2) 實時采樣頻率 50MHz,等效采樣頻率 200MHz,這樣既降低了成本,減少了耗電,又能上乘顯示波形細(xì)節(jié)。
3) 本機(jī)耗電僅 2W 左右。采用 4 節(jié) 5 號 2500mAh Ni-MH 可充電池可連續(xù)工作約 5 ~ 6.5 小時,應(yīng)急時也可使用普通 5 號堿性電池。與使用定制鋰電池板相比,電池更新費(fèi)相當(dāng)?shù)?,也省去購買原廠電池的麻煩。
4) 整數(shù)可變等分分度,每等分代表的聲程始終是 1、2、5、10 的整倍數(shù),估算回波聲程非常直觀。
5) 發(fā)射脈沖為負(fù)方波,寬度可調(diào),使探頭發(fā)射效率提高,回波增大,提高了發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力。
6) 回波顯示區(qū)左右分屏顯示模式,左屏顯示一次底波前的缺陷波,右屏顯示高次底波例如 10 次底波高度,使平板探傷時,看的更清楚、直觀。
7) 波形擴(kuò)展功能,擴(kuò)展程度和進(jìn)波門寬度無關(guān),可以任意連續(xù)改變擴(kuò)展程度,波形擴(kuò)展后,仍可調(diào)延時,這樣可細(xì)看任一部位,退出擴(kuò)展時返回到原來的聲程、延時。
8) 設(shè)有擴(kuò)展點(diǎn)指示功能。打開擴(kuò)展后,在水平軸下方顯示一個小三角形,指示該點(diǎn)就是擴(kuò)展點(diǎn),聲程改變時,該點(diǎn)上的回波位置不會改變。
9) 回波圖凍結(jié)前,無論聲程大小,凍結(jié)后可全范圍調(diào)節(jié)聲程、延時及波形擴(kuò)展,可方便仔細(xì)分析不同處的回波。
10) 多功能電源監(jiān)示功能,循環(huán)顯示電壓、電流、放電量,使操作者對電池情況了如指掌。
11) 動態(tài)波形描繪功能,能畫出動態(tài)波形曲線,便于分析缺陷性質(zhì)。
12) 具有界面波鎖定功能,可使用液浸法探傷或測厚。界面波被鎖定在聲程起點(diǎn)(聲程零點(diǎn)),這樣界面波的抖動被消除掉,缺陷回波或工件底波也就不會抖動了,整個顯示區(qū)都可以用來顯示回波,并可任意改變聲程,而不影響對界面波的鎖定。又在顯示屏右上角開設(shè)一個 64x40 點(diǎn)的小窗口,類似電視機(jī)的畫中畫功能,在小窗口內(nèi)實時顯示界面波鎖定情況。
14) 可預(yù)設(shè) 30 個探傷配置通道,不必再帶試塊到現(xiàn)場校調(diào)。可存 127 幅回波及參數(shù),4000 個測厚數(shù)據(jù)。
15) 實時顯示進(jìn)波門內(nèi)*高回波的聲程、高度、缺陷等效孔徑等參數(shù),各種參數(shù)每秒刷新約 4 次(刷新太快反而看不清)。
16) 能測量材料聲速、探頭延時及 K 值。
17) DAC,AVG 曲線自動生成,能隨增益、聲程、延時(平移)改變而浮動。在制作 DAC 曲線多點(diǎn)采樣時,采樣次序任意,多點(diǎn)采樣時,中途也可調(diào)增益、聲程、延時。制作 AVG 曲線時,也可對底波采樣。
18) 有峰值記憶、回波包絡(luò)功能。峰值回波或包絡(luò)線以虛線顯示,而實時回波仍以實線顯示,虛實線的顏色可以不同,使操作者能實時觀察到二者之間的關(guān)系。
19) 有 B 掃功能,能顯示工件橫截面。
20) 高速自動高度功能。按一次自動高度鍵,進(jìn)波門內(nèi)的回波能在 1~ 2S 內(nèi)調(diào)到約 80%高度,按一次鍵調(diào)一次,這樣能快速改變增益,從而把回波調(diào)到合理高度。
21) 具有搜索靈敏度增加 ON/OFF 開關(guān),可在搜索/定量間快速切換。搜索靈敏度增加設(shè)定范圍為 0 ~ 20dB。
22) 有 RS-232 通訊口,向 PC 機(jī)傳送記錄數(shù)據(jù)后,在 PC 機(jī)上輸出報告并打印。
23) 相對增益置零鍵,可直讀增益變化量。如習(xí)慣以衰減量表示的話,可先把增益調(diào)*大,再按此鍵后,看相對增益的數(shù)值就是衰減量。
24) 在用斜探頭時,聲程刻度也可以同時顯示二排刻度值,分別代表水平分量和垂直分量,不必再來回切換。知道二個方向的分量值,就能確定缺陷位置。
25) 聲程延時量快速回零功能。按下延時編碼旋鈕 0.6S,延時量快速回零。
26) 有曲線位置提示功能,如已制作的 DAC 或 AVG 曲線不在顯示屏顯示區(qū)內(nèi),在改變增益、聲程、延時后,會提示曲線位置是太高還是太左或太右,幫助判斷正確的操作方向(僅在 7 號菜單設(shè)此功能)。
27) 采用大信號檢波以改善線性,擴(kuò)展動態(tài)范圍。
28) 有二種測厚模式(始波到底波模式或底波到底波模式),滿足不同測厚要求。
29) 快速起動,按電源開關(guān) 3S 后即可探傷。關(guān)機(jī) 1S 后,即可再開機(jī)回到原來狀態(tài),這樣就能在探傷間歇期通過關(guān)機(jī)來延長電池使用時間。
CUD100數(shù)字超聲波探傷儀技術(shù)參數(shù):
材料聲速 | 1000 ~ 9999M/S | |||
*大聲程 | 6100mm,滿刻度聲程*小4mm (鋼,縱波,反射式) | |||
頻率范圍 | 0.4 ~ 10MHz / 0.7~1.4 1.8~3.5 4~6 MHz(帶通) | |||
增益范圍 | 0 ~ 110dB (步長0.1dB,1dB) | |||
延時范圍 | 0 ~ 6000mm | |||
K值范圍 | 0.20 ~ 5.00 | |||
抑制范圍 | 0 ~ 50% | |||
增量 | 0 ~ 20dB | |||
補(bǔ)償 | -20 ~ 20dB | |||
測長線 | -20 ~ 20dB | |||
定量線 | -20 ~ 20dB | |||
判廢線 | -20 ~ 20dB | |||
垂直線性 | <3% | |||
水平線性 | <0.3% | |||
發(fā)射電源電壓 | DC 200V | |||
發(fā)射脈沖寬度 | 負(fù)脈沖方波 0.05~0.6μS 可調(diào)(步長0.01μS) | |||
發(fā)射脈沖內(nèi)阻 | 不大于10Ω | |||
發(fā)射重復(fù)頻率 | 25~ 400Hz | 聲程<150 μS時 | 400/200Hz | FAST/SLOW |
150 μS <聲程<300 μS時 | 200/100Hz | FAST/SLOW | ||
300 μS <聲程<600 μS時 | 100/50HZ | FAST/SLOW | ||
聲程>600 μS時 | 50/25Hz | FAST/SLOW | ||
探頭阻尼電阻 | 約120Ω 固定 | |||
放大器輸入 | 增益0dB, 屏幕高度時約50V峰值輸入端噪聲約50μV峰值(寬帶) 帶寬噪聲約16nV√Hz峰值 | |||
數(shù)字采樣 | 8bit 實時50MHz,等效200MHz(硬件實現(xiàn)) | |||
顯示方式 | 檢波+,檢波-,全波 | |||
顯示器件 | 東芝TFT工業(yè)彩色液晶顯示屏(320x240,5.7英寸),LED背光燈 | |||
液晶屏刷新頻率 | 50Hz | |||
閘門 | 進(jìn)波門、失波門,可調(diào) | |||
動態(tài)范圍 | >32dB | |||
靈敏度余量 | >58dB (與探頭有關(guān)) | |||
分辯率 | >26dB (與探頭有關(guān)) | |||
測厚分辨率 | 0.02mm (厚度小于650mm時) | |||
電源 | 4節(jié)5號Ni-MH可充電池2500mAh 外接電源DC9~15V 0.5~0.3A | |||
電池消耗功率 | 約2W (350mm聲程、背光強(qiáng)、發(fā)射重復(fù)頻率FAST)約1.5W (350mm聲程、背光弱、發(fā)射重復(fù)頻率SLOW) | |||
電池連續(xù)工作時間 | 約5小時 (350mm聲程、背光強(qiáng)、發(fā)射重復(fù)頻率FAST)約6.5小時(350mm聲程、背光弱、發(fā)射重復(fù)頻率SLOW) | |||
儲存環(huán)境溫度 | -20℃ ~ +70℃ | |||
工作環(huán)境溫度 | -10℃ ~ +50℃ | |||
外形尺寸 | 230 x 146 x 37 mm(不包含旋鈕突出部分) | |||
質(zhì)量 | 約900克 (含4節(jié)AA鎳氫電池) |
CUD100數(shù)字超聲波探傷儀標(biāo)準(zhǔn)配置 :
1. | CUD100主機(jī) | 1臺 |
2. | 直探頭 | 1個 |
3. | 斜探頭 | 1個 |
4. | 9V電源適配器 | 1個 |
5. | 探頭連接線 | 2根 |
6. | 產(chǎn)品包裝箱 | 1個 |
7. | 電池組 | 1組 |
8. | 探傷軟件、操作視頻 | 1套 |
9 | 說明書、合格證、保修卡 | 1套 |
CUD100數(shù)字超聲波探傷儀可選附件:
各種標(biāo)準(zhǔn)探傷試塊、各種尺寸及頻率直探頭和斜探頭