德國(guó)EPK新型高精度涂層測(cè)厚儀MiniTest 7400可以實(shí)所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量。創(chuàng)新的SIDSP數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)探頭。大大提高精確度和重現(xiàn)性；測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭。MiniTest 7400 探頭可選探頭種類繁多的可換探頭，滿足各種應(yīng)用要求?？梢酝ㄟ^推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。

詳細(xì)介紹

高精度涂層測(cè)厚儀
• 所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量
• 多種圖形顯示選項(xiàng)
• 菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
• 用于簡(jiǎn)易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件
• 測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
• SIDSP®技術(shù)提升精確度和重現(xiàn)性
MiniTest 7400 探頭
可選探頭
種類繁多的可換探頭，滿足各種應(yīng)用要求。
可以通過推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。

兩用型FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體材料。
與表面接觸后，儀器自動(dòng)切換到合適的測(cè)量原理。因此，應(yīng)用錯(cuò)誤會(huì)被淘汰，加快了測(cè)量進(jìn)程。

探頭技術(shù)參數(shù)

標(biāo)準(zhǔn)探頭	HD探頭	量程	低端分辨率	誤差	重復(fù)性 (標(biāo)準(zhǔn)偏差)	曲率半徑 (凸/凹)	測(cè)量區(qū)域直徑(無測(cè)量標(biāo)準(zhǔn))	zui小測(cè)量區(qū)域直徑(有測(cè)量標(biāo)準(zhǔn))	zui小基體厚度
F05	F05HD	0~0.5mm	0.02μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	0.3mm
F1.5	F1.5HD	0~1.5mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	0.3mm
F1.5-90		0~1.5mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	平面/5mm	10mm	5mm	0.3mm
	F2HD	0~2mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	-	0.5mm
F5	F5HD	0~5mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	10mm	0.5mm
F15		0-15mm	1μm	±(5μm±0.75%)	±(2.5μm±0.5%)	5/25mm	25mm	25mm	1.0mm
F35		0-35mm	5μm	±(20μm±0.75%)	±(10μm±0.5%)	50/50mm	100mm	-	1.5mm
N0.2	N0.2HD	0~0.7mm	0.02μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	40μm
N0.7	N0.7HD	0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	40μm
N0.7-90		0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	平面/5mm	10mm	5mm	40μm
N2.5	N2.5HD	0~2.5mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	10mm	40μm
N7		0~2.5mm	1μm	±(5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	15/25mm	23mm	20mm	40μm
FN1.5	FN1.5HD	F：0~1.5mm N：0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	1/7.5mm	14mm	5mm	F：0.3mm N：40μm
FN1.5-90		F：0~1.5mm N：0~0.7mm	0.05μm	±(1μm±0.75%)	±(0.5μm±0.5%)	平面/5mm	10mm	5mm	F：0.3mm N：40μm
FN5	FN5HD	F：0~5mm N：0~2.5mm	0.1μm	±(1.5μm±0.75%)	±(0.8μm±0.5%)	1.5/10mm	14mm	10mm	F：0.5mm N：40μm

注：HD探頭是針對(duì)于油漆或粉塵污染等惡劣環(huán)境設(shè)計(jì)的堅(jiān)固探頭，F(xiàn)2HD特別適用于粗糙表面。

1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)
2.零點(diǎn)校準(zhǔn)，并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近
3.使用精密支架，不適用HD探頭
4.如果選擇“快速”，測(cè)量速度主要取決于操作
5.根據(jù) DIN 55350第13部分
6.多點(diǎn)校準(zhǔn)值優(yōu)于獲得的數(shù)據(jù).
7.包括涂層
探頭設(shè)計(jì)選擇
不同的線纜插口類型更加靈活，來適應(yīng)測(cè)試要求。每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計(jì)，后者可以測(cè)量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。

對(duì)由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供保護(hù)，MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

F 2 HD 探頭
對(duì)于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。
MiniTest 7400 主機(jī)技術(shù)參數(shù)

技術(shù)參數(shù)MiniTest7400
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	500
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量	約250000個(gè)讀數(shù)
統(tǒng)計(jì)值(每批組)	讀數(shù)個(gè)數(shù)，zui大值，zui小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)，過程能力指數(shù)CP和CPK，直方圖，趨勢(shì)圖
校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范	ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式	多達(dá)5點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控	聲音、視覺報(bào)警提示超過極限值
測(cè)量單位	μm，mm，cm，mils，inch，thou
操作/存放溫度	-10℃~60℃/-20℃~70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA®1.0紅外接口，可選USB和RS232適配器
電源	4節(jié)AA(LR06型)電池，或可選外接電源(90－240V～/48－62Hz)
規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)	160x160像素LCD帶背光
顯示	153mmx89mm32mm
尺寸
重量	310g；(主機(jī)包括電池)