污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
無錫四聯(lián)科技有限公司
參 考 價 | 面議 |
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更新時間:2022-07-12 13:49:03瀏覽次數(shù):434次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線此款高低溫試驗箱控制柜位于試驗箱頂部,制冷機組位于試驗箱后背
此款高低溫試驗箱控制柜位于試驗箱頂部,制冷機組位于試驗箱后背。為滿足客戶特殊要求而定制。
設(shè)備的用途:
該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國標(biāo)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。
應(yīng)用的行業(yè):
適合電子、塑膠制品、電器、儀表、食品、車輛、金屬、化學(xué)、建材、航天、醫(yī)療…等制品檢測質(zhì)量之用。
設(shè)備的特點:
1、制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機。
2、冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。
3、采用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
4、風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計,風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn),并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。
5、升溫、降溫、系統(tǒng)獨立,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。
6、溫度控制采用全進(jìn)口觸摸按鍵式儀表,操作設(shè)定簡單。
7、資料及試驗條件輸入后,控制器具有鎖定功能,避免人為觸摸而改變溫度值。
8、具有P.I.D自動演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控制更為穩(wěn)定。
型號規(guī)格
型號 | 工作室尺寸(mm) |
GDW-100 | 400×500×500 |
GDW-150 | 500×500×600 |
GDW-250 | 500×600×810 |
GDW-500 | 700×800×900 |
GDW-800 | 800×1000×1000 |
GDW-010 | 1000×1000×1000 |
主要技術(shù)參數(shù)
溫度范圍 | B型 | C型 | D型 | E型 |
-20℃~+150℃ | -40℃~+150℃ | -60℃~+150℃ | -70℃~+150℃ | |
溫度均勻度 | ≤±2℃ | |||
溫度波動度 | ≤±0.5℃ | |||
升溫速率 | 2~3℃/min(可按客戶要求定做) | |||
降溫速率 | 0.7~1℃/min(可按客戶要求定做) | |||
使用環(huán)境溫度 | 常溫25℃,通風(fēng)良好 | |||
電源電壓 | AC380V/50HZ | |||
箱體材質(zhì) | 高低溫試驗箱內(nèi)箱采用1.2mm不銹鋼板,外殼1.5mm冷軋板靜電噴塑 | |||
控制系統(tǒng) | 采用日本“富士"數(shù)顯溫、濕度測控儀,精度:±0.1℃ | |||
定時功能 | 采用無錫“飛滬"時間繼電器,0~999.9h任意可設(shè)定 | |||
制冷系統(tǒng) | 采用法國“泰康"制冷機組,制冷劑進(jìn)口環(huán)保型R404A、R23 | |||
其他 | ¢50mm引線孔一個;不銹鋼樣品架二個,底部設(shè)可移動PU腳輪 | |||
保護(hù)裝置 | 超溫保護(hù),缺相保護(hù),漏電保護(hù),壓縮機超壓等多重保護(hù)功能 |
高低溫試驗箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
1.GB 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
2. GB 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
3. GB 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
4. GB/T5170.2-2017 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
5. GB2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
6. GB2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
7. GB2424.1-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
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