詳細介紹 產(chǎn)品名稱: 激光光束分析儀 儀器型號: ST.59-2000 產(chǎn)地: 關鍵字: 激光光束分析儀 產(chǎn)品描述 主要功能 激光光斑光強的二維分布 激光光斑光強的三維分布(任意方位、俯仰角) 光斑直徑(按半高全寬、1/e2、刀口法3種定義) 高斯擬合 坐標軸旋轉(zhuǎn)選取光斑主軸 連續(xù)采集 脈沖激光的軟觸發(fā)?系統(tǒng)構成 專用采集卡 軟件包 光學暗箱(含分光衰減系統(tǒng)、軌道等) ST.59-2000系列備有IV型和H型兩種光學暗箱 臺式電腦(選購) 主 要 特 點: ST.59-2000激光光束分析儀是在LS-3、LS-4、LS-5等系列產(chǎn)品的基礎上開發(fā)的版本。屏幕界面為英文,配有中文說明書。 ST.59-2000是基于PC機的“裝配式"系統(tǒng),可根據(jù)用戶的需求及自有資源情況靈活配置。硬件可靠性高,軟件升級方便。 ST.59-2000激光光束分析儀由以下部分組成: 1. 基本系統(tǒng): 專用圖象采集卡:用于采集來自光圖象探測器的模擬信號,將其變?yōu)镻C機可接受的數(shù)字信號后送入PC機處理; 專用軟件包:由“實時探測",“存貯功能",“分析測試"等幾部分組成 2. 圖象探測器: 根據(jù)被測激光的波長,選擇適當?shù)膱D象探測器的一種或幾種:標準配置:1/2英寸CCD(電荷耦合器件)探測器,光譜響應為可見及近紅外波段(360nm-1100nm) 。該CCD 適用于大多數(shù)常用激光器,如He-Ne,Ar離子,Nd:YAG、Nd:YVO4及其二、三次倍頻(532、355nm) ,半導體發(fā)光管及激光管,染料及鈦寶石激光器等,這些激光器的波長均在其標配CCD的敏感波長范圍內(nèi)。該CCD的圖像敏感面積為 6.4 x 4.8 mm2。 特殊需求可選配其他規(guī)格的CCD。其它可選圖像探測器:a) 2/3“英寸CCD(360nm-1100nm,圖像敏感面積8.8 x 6.6 mm2)b) 紅外敏化型CCD (紅外響應至1310、1650nm)c) 可見及近紅外光電陰極攝像管 使用PbO,PbS光電陰極的真空攝像管作為圖象探測器。適用于0.4 ~ 1.9µ 波長范圍的探測, 增強型可探測 0.4 ~ 2.2µ。d) 熱電型探測器(Pyroelectric) 主要用于測量CO2激光(10.6µ)及其倍頻等。波長范圍為0.8 ~ 20µ 紅外激光。 3.光學暗箱 由于被探測的激光強度通常高出圖象探測器接收靈敏度若干個量級,因此必須將被測激光強度衰減到探測器的線性工作區(qū)內(nèi)。光學暗箱提供分光、衰減系統(tǒng),使被測激光束無畸變地衰減到CCD的響應區(qū)(線性工作區(qū)),并屏蔽來自多方面的雜散光,使其不干擾高靈敏的圖象探測器。ST.59-2000型光學暗箱由箱體、電源及楔形石英分束器、楔形反射器、衰減系統(tǒng)(固定衰減片組、連續(xù)衰減器)、光陷阱、透射屏及光學導軌等組成。 H型光學暗箱的內(nèi)部結構和所含的元部件與IV型相同:均含石英分光光楔與調(diào)節(jié)架、反射光楔與調(diào)節(jié)架、連續(xù)衰減器、固定衰減片組、CCD及電源等。 差別是H型使用機箱外軌道;IV使用機箱內(nèi)軌道石英光楔分束器 利用石英光楔的內(nèi)二次反射對被測光束進行前級無失真衰減(衰減率約0.15%)。 由于光學級石英對被測光束的吸收小、熱脹系數(shù)小,在較強激光照射下對被測光束功率/能量分布的畸變也極小,適于作為前級衰減。 楔形反射鏡及二維精密調(diào)節(jié)架 利用光楔的前表面反射對經(jīng)前級衰減的光束進行二次衰減(衰減率約4%)及導向。 中性衰減片組:包括連續(xù)衰減器和固定衰減片組 固定衰減片組 用于較大幅度衰減被測光強。 該組共有6片衰減片,每個衰減數(shù)量級2片,其衰減倍率跨3個半數(shù)量級。其衰減倍率(db數(shù))按線性分布。?1# 2# 3# 4# 5# 6# 透過率T 0.10 0.32 0.01 0.0028 0.001 0.0004 衰減倍率β(db) 10 14.9 20 25.5 30 34 連續(xù)衰減器: 為方便衰減倍率的調(diào)節(jié),使CCD工作在線性區(qū),IV型光學暗葙內(nèi)備有連續(xù)衰減器。它由兩片楔形中性吸收玻璃組成, 當其中1片滑動時, 即改變光束通過兩光楔的總光程, 從而可連續(xù)改變衰減率, 大大方便了衰減倍率的獲取。 導軌及標尺 IV型的導軌裝在光學暗箱內(nèi)IV型的導軌在光學暗箱外,主探測盒(光學暗箱)可在導軌上移動可使CCD和與其相關的衰減器等部件沿滑軌作整體移動(IV型光學暗箱中的CCD與相關部件間有聯(lián)鎖裝置;H型主探測盒整體在導軌上移動),從而改變探測器在光束傳播方向的位置,可測量發(fā)散角等參數(shù)。IV型暗箱內(nèi)備有I,II兩條滑軌。導軌I用于標準探測模式(光束經(jīng)衰減射入光敏面);導軌II適用于“透射像攝取"探測模式(適用于獲取大尺寸光束圖像)、“近攝裝置"以及標準模式下需CCD移動距離較長的場合。導軌II上裝有備用二維調(diào)節(jié)架(可放置透鏡、反射鏡等元件)及透射屏架。4.電腦及打印機(選購件,標準配置不含) 可選用任何可運行Windows 2000/XP的臺式機。打印機用于輸出測試結果,如使用彩色打印機以輸出彩色圖象效果更佳。提示:系統(tǒng)的圖像采集卡最多可接3路圖像探測器, 軟件亦可對來自不同探測器的信號方便切換、獨立處理,故對需要經(jīng)常在不同探測模式間切換的場合可選購“第二導軌部件: IV型光學暗箱內(nèi)已備有第二導軌,只需另購第二CCD及相關分光衰減部件、電源、信號線等。對IV型則需另購第二個主探測盒。 ★可選附件――近攝裝置(選購件): 本近攝裝置專用于拍攝近處物體,并可得到可達1.33的放大倍數(shù)(放大倍數(shù)=像尺寸/物尺寸)。用以拍攝“光斑透射像"可以獲取并處理小光束(如幾十微米 x 幾十微米)的近場像。由于這類小光斑的發(fā)散角往往較大,光強較強,故必須保證系統(tǒng)的“物距"足夠小,衰減部件也不能影響物距。本近攝裝置的設計可保證滿足這些條件。(本近攝裝置使用“鏡后衰減"和鏡頭光圈雙重衰減,從而得到大跨度、連續(xù)的衰減) 本近攝裝置配有尺寸標定膠片,用于定量標定透射光束的實際尺度。
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