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深圳市熒鴻科技有限公司
參 考 價 | 面議 |
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品 牌
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更新時間:2023-04-16 08:57:17瀏覽次數(shù):187次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線產(chǎn)品簡介:手持式4個LED晶圓晶片瑕疵檢查
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H簡介:
SL8904-H是一款手持式wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈,符合ASTM E 3022等各種國際標(biāo)準(zhǔn),適用各行的檢測;配有三腳架,解放雙手方便各種測試; 高強(qiáng)度紫外線細(xì)微檢測晶圓表面各種瑕疵,紫外燈的光束輪廓非常均勻,沒有任何足跡顯示LED的陰影,黑點(diǎn)或其他干擾缺陷; SL8904系列具有4個強(qiáng)大的UV-A(365 nm)LED和6個側(cè)邊的白光LED,它們使用2個獨(dú)立的開關(guān),無需單獨(dú)的手電筒。
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H規(guī)格參數(shù):
型號: SL8104-H
峰值波長:365 – 370nm;
紫外線強(qiáng)度: 22000uw/cm2,在15英寸距離(相當(dāng)于380mm距離 )-可以按照客戶的要求設(shè)計(jì) ;
紫外線燈數(shù): 4× 5W 365NM UV LED和6個側(cè)邊白燈, LED平均壽命是30000小時
電源:交流100-240AC/50H充電器 ;直流聚合物電池組—交流和直流2種供電方式。
照射面積: 120 * 160mm在38厘米距離
紫外線光強(qiáng)的穩(wěn)定性: > 90 %
產(chǎn)品尺寸: 180 * 190 * 106mm; 凈重: 0.68KG(不含配件)
(我們掌握了核心技術(shù),我們可以根據(jù)客戶的需求調(diào)整紫外線的強(qiáng)度)
產(chǎn)品型號 | SL8904-H高強(qiáng)度晶圓表面瑕疵檢測燈
| 備注 |
LED的數(shù)量和規(guī)格 | 4顆5瓦日亞NICHIA 365NM UV LED | 可以按照客戶的要求定制 |
365NM,395NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意選擇其中的一種波長,特殊要求可以定制黃綠燈(加定制的濾光片)
分別是:SL8904-395紫外燈;SL8904-455藍(lán)色燈;SL8904-G綠光檢查燈;SL8904-Y黃光的檢查燈;SL8904-GY黃綠光檢查燈;SL8904-W白光的檢查燈; | ||
側(cè)邊白光燈 | 6個LED的白光 | |
檢查燈的亮度(測試距離38.1cm) | 21000uw/cm2 | |
照射面積(單位MM) | 126*160mm | |
開關(guān)方式 | 1個開關(guān)控制側(cè)邊燈,另外一個開關(guān)控制檢查燈 | |
使用壽命 | 30000小時 | |
供電方式 | 電量顯示功能,鋰電池組供電,檢查燈連續(xù)使用4小時,側(cè)邊燈10小時 | |
尺寸和凈重 | 材料:ABS+鋁合金材料,尺寸:180*190*106mm; 凈重:0.68KG 180 * 190 * 106mm; 凈重: 0.68KG | |
可選配件 | 三腳架,防護(hù)眼鏡 |
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H簡寫和代號:
SL-8904XX
H代表高強(qiáng)度365NM紫外燈;V代表395NM紫光;
B代表455NM藍(lán)光;G代表525NM綠光;
A代表595NM黃光;R代表625NM紅光;
GY代表510-595NM黃綠光;W代表4000-600K的白光
SL8904AC:使用交流電的,交流電電版本;
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H特點(diǎn)
●100 %固態(tài)冷確保了在強(qiáng)磁場情況下正常工作
●的機(jī)械冷卻系統(tǒng)可使LED冷卻,以便在長時間使用時能保持波長的輸出。
●可同時使用UV燈和側(cè)邊白光照明功能,使用2個獨(dú)立的開關(guān)
●極大的覆蓋面積可達(dá)260mm,最小UV-A強(qiáng)度為1,000μW/ cm2
●啟動按鈕提供即時電源,產(chǎn)品使用2個獨(dú)立開關(guān) – 手柄,方便使用。
●8904系列可以使用三腳架,便于操作和在不同情況下使用
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H標(biāo)準(zhǔn)包裝
紫外燈SL8904,充電器,防水工具包
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H可選配件
備用紫外線過濾眼鏡(橙色或黃色);三腳架
wafer晶圓表面瑕疵檢查燈SL8904-H應(yīng)用
熒光檢測:鋼鐵,有色金屬,汽車,飛機(jī),熒光滲透探傷,熒光磁粉探傷
污染檢查:電子元器件,電路板,灰塵檢查,LCD面板,進(jìn)入潔凈室所檢查
SL8904-H高強(qiáng)度紫外燈可以用于晶圓表面微粒檢測。 晶棒在切割、清洗以及無塵室過程中會產(chǎn)生particle等都會對晶圓表面造成污染,而這些particle等異物在SL8904-H高強(qiáng)度紫外線燈照射下會發(fā)出熒光,檢查者會很容易發(fā)現(xiàn)污點(diǎn),會大幅度提高晶圓的良品率。國內(nèi)各大芯片封裝廠都使用和采用我們的產(chǎn)品和方案,我們能按照客戶的要求定制各種檢查燈。
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