陳霞
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更新時間:2024-03-24 13:23:29瀏覽次數(shù):889次
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測量范圍 | 1 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
---|---|---|---|
類型 | 數(shù)字式 |
日本chino光學(xué)干涉涂層測厚儀 IRMS8599S
IRMS8599將光投射到要測量的薄膜上,并測量表面反射光和反射背上反射光引起的干涉厚度。
它適用于半導(dǎo)體、液晶面板、太陽能電池、LED 面板和涂層等制造工藝。
IRMS8599S 具有 RS-485 通信和模擬輸出功能。
連續(xù)光譜可實(shí)現(xiàn)FFT分析和CF(曲線擬合)分析
同時測量多達(dá) 4 層
工作溫度0~50°C,IP65(防塵防滴結(jié)構(gòu))
IRMS8599S 配備 RS-485 通信和模擬輸出功能。
日本chino光學(xué)干涉涂層測厚儀 IRMS8599S
名字 | 光學(xué)干涉鍍膜測厚儀 |
---|---|
格式 | IRMS8599S |
如何衡量 | 可見光近紅外連續(xù)光譜 |
測量范圍 | 20納米~100微米 |
測量波長范圍 | 0.4~1.0微米 |
測量距離/直徑 | 10~80毫米/φ20毫米(平行光筒) 18毫米/φ2毫米(會聚光學(xué)鏡筒) 80毫米/φ5毫米(會聚光學(xué)鏡筒) |
測量間隔 | 10~10000毫秒 |
光源 | 鎢絲燈 |
纖維 | 雙分支束光纖 |
通信接口 | RS-485 |
模擬輸出信號 | 4~20mA DC(負(fù)載電阻500Ω以下) |
權(quán)力 | 24V 直流 |
功耗 | 高達(dá) 150VA |
質(zhì)量 | 約 3.5 千克 |
防護(hù)結(jié)構(gòu) | 防塵防濺結(jié)構(gòu) (IP65) |
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