電鍍件鍍層測厚儀可以同時間測量多至層鍍層、或進(jìn)行多至5元素的合金分析、又或是zui多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。采用數(shù)學(xué)FP法，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損壞。帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實(shí)現(xiàn)簡便測量的可能性。在加強(qiáng)的軟件功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下，一樣精準(zhǔn)測量。可適用于各種樣品，從較厚的樣品（機(jī)械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件、表、端子、小螺絲、螺絲帽、一些電氣產(chǎn)品中的小五金零件等等等 。

電鍍件鍍層測厚儀 X射線熒光鍍層測厚儀 金屬零件鍍層厚度測量儀主要特點(diǎn)
　　★搭載樣品尺寸的兼容性，能夠通過一臺儀器測量，從電子部件、電路板到機(jī)械部件等高度較高的樣品
　　★具有焦點(diǎn)距離切換功能，適用于有凹凸的機(jī)械部件與電路板的底部進(jìn)行測量
　　★彩色CCD攝像頭，通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量，避免直接接觸或破壞被測物。

鍍層測厚儀X-Strata920特點(diǎn)：

可測元素：鈦Ti22---鈾U92間各元素；

可測鍍層：5層鍍層(含基材層)，15種元素共存校正；

測量時間約10秒，快速得出測量結(jié)果；

測量結(jié)果精確到微英寸；

測量結(jié)果報(bào)告可包含：數(shù)據(jù)、被測樣品點(diǎn)圖片、各種統(tǒng)計(jì)報(bào)表、客戶信息；

提供貴重金屬分析和金純度檢查(即Au karat評價)；

提供NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片；

享有的服務(wù)與支持。

測厚范圍：取決于具體的應(yīng)用。

測量精度：

膜厚≤20μin(0.5um)時，測量誤差值為：*層±1μin，第二層±2μin，第二層±3μin

膜厚＞20μin(0.5um)時，測量誤差值為：*層±5%，第二層±10%，第二層±15%