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硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HC

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更新時(shí)間：2023-09-13 13:30:07瀏覽次數(shù)：374次

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  光學(xué)儀器

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蘇州弗士達(dá)科學(xué)儀器有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品簡介

硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HT夾具底部帶有加熱板，利用高溫加速OLED器件的老化，進(jìn)行高溫條件下的器件壽命測試

詳細(xì)介紹

硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HC

根據(jù)用戶不同溫濕度環(huán)境測試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對器件的壽命測試環(huán)境進(jìn)行控制。其溫度控制范圍、濕度控制范圍和多層腔式均可根據(jù)客戶的需求訂制。

硅光電式的OLED器件壽命測試FS-MP-HC

標(biāo)準(zhǔn)恒溫恒濕箱參數(shù)

溫度范圍： -40～100 ℃ （標(biāo)準(zhǔn)型，其它溫度范圍可訂制）溫度均勻度：±2.0℃溫度波動度： ± 0.5℃溫度精度：1 ℃

軟件功能
(1)測量模式：恒壓、恒流、方波電壓、方波電流(2)軟件所有通道可獨(dú)立配置電流電壓測試條件，互不影響。-每個(gè)發(fā)光點(diǎn)可以獨(dú)立設(shè)置電壓或電流等參數(shù)，獨(dú)立開始和停止測量。支持用戶在測試過程中，增加或更換其中幾片產(chǎn)品。-測量時(shí)間控制：有3個(gè)時(shí)間段設(shè)計(jì)，每個(gè)通道每個(gè)時(shí)間段可以分別設(shè)置測量時(shí)間和間隔等參數(shù)。-測量前預(yù)處理功能：有4段預(yù)處理，每段預(yù)處理都可以設(shè)置溫度、電流、電壓和時(shí)間等參數(shù)，正常測量前先以預(yù)處理?xiàng)l件進(jìn)行老化，然后再進(jìn)入正常壽命測試程序。(3)軟件所有通道可實(shí)時(shí)檢查詳細(xì)測量數(shù)據(jù)及圖表。-數(shù)據(jù)包含樣品信息、測量時(shí)間、已測時(shí)長、光感電流、亮度剩余比例、電壓、電流、預(yù)估壽命溫度、濕度、亮度等。-多通道曲線圖：支持選擇多通道電壓、電流、亮度衰減、壽命時(shí)長等數(shù)據(jù)，在一張圖表里顯示曲線，便于比較篩選。-數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)存儲，異?；謴?fù)后可找回?cái)?shù)據(jù)并繼續(xù)測試(中斷的時(shí)間不累積，能自動減除)。-數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)處理和記錄，自動生成數(shù)據(jù)圖表和測試報(bào)告， Datalog及Eventlog實(shí)時(shí)記錄。