HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀介紹

動態(tài)光散射粒徑分布測定裝置新型號，高靈敏度、高精度的測量；*表征單一體系納米尺度粒子；*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。
主要應(yīng)用范圍為：陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制藥、病毒、涂料、化妝品、聚合物、食品、CMP、顏料、油墨

HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀

粒子直徑測定：
超寬動態(tài)光散射范圍：0.3nm~8000nm
通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關(guān)器，實現(xiàn)高性能化
在單一納米粒子光學(xué)系統(tǒng)中，采用更低雜散光90度檢測光學(xué)系統(tǒng)
雙光路系統(tǒng)（90度和173度）適用于更寬更濃度范圍的樣品測量，可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等濃度樣品的測定

產(chǎn)品特點：
可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量
樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定
HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池，可以測定僅100uL的Zeta電位
廣泛應(yīng)用于膠制粒子、機能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測定
取樣后，僅需按測定開始按鈕即可，操作簡單

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