原子力拉曼聯(lián)用系統(tǒng)—XploRA Nano是一款高度集成原子力拉曼系統(tǒng)。它不僅提供各種優(yōu)xiu性能，而且使用便捷，能快速得到可靠的結(jié)果。

原子力拉曼聯(lián)用系統(tǒng)—XploRA Nano產(chǎn)品特點：
全自動操作，數(shù)分鐘內(nèi)即可開始測試
適合拉曼紅光或近紅外激發(fā)（AFM反饋激光為1300nm）
側(cè)向及頂部耦聯(lián)，均可使用高NA值100倍物鏡以優(yōu)化信號
同區(qū)域成像
針尖增強拉曼光譜TERS
TERS快速成像
同一軟件操作

結(jié)合納米成像和化學(xué)分析

AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級別分辨率下的形貌、力學(xué)、熱能、電磁場和近場光學(xué)特性。
共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細化學(xué)信息。
同步測量的*平臺，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
結(jié)合高性能和易用性，HORIBA將會根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個可靠、全功能的解決方案
針尖增強拉曼光譜(TERS)的光學(xué)、機械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計的，同時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗做技術(shù)的支持，您可以自信地使用這一技術(shù)。

快速找到納米對象
由于納米材料具有特殊的化學(xué)屬性，拉曼峰信號較強，因此在光學(xué)顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進行搜索和定位。在找到樣品后，我們可以對感興趣的位置進行形貌、機械、電學(xué)和熱能分析。

交叉驗證您的數(shù)據(jù) 
拉曼光譜可以證實材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的對比度較差而難以確定層厚，拉曼則可以從另外一個角度去獲得相同的信息，此外拉曼還提供更多有關(guān)結(jié)構(gòu)和缺陷的信息，此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。