900~1700nm 探測(cè)與計(jì)數(shù)一體機(jī)

一體化單光子計(jì)數(shù)器，無(wú)需再為時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器系統(tǒng)搭建而煩惱！

以往科研人員如果需要進(jìn)行光子級(jí)別的時(shí)間相關(guān)測(cè)量，例如量子態(tài)符合記數(shù)，測(cè)量，必須要從不同的公司購(gòu)買單光子計(jì)數(shù)器和時(shí)間分辨模塊，然后在將兩套系統(tǒng)連接起來(lái)使用。這樣經(jīng)常會(huì)帶來(lái)客戶在產(chǎn)品選型困難，系統(tǒng)兼容性不好，無(wú)法在統(tǒng)一的軟件下運(yùn)行等諸多方面的困擾。

LYNXEA系列時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器是一款高性能，高度集成化的時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器系統(tǒng)。LYNXEA通過(guò)集成兩臺(tái)高靈敏度SPD_A單光子探測(cè)器及高精度模塊在同一臺(tái)設(shè)備中，通過(guò)初期設(shè)計(jì)對(duì)單光子探測(cè)器及TCSPC模塊進(jìn)行了優(yōu)化的設(shè)計(jì)，充分發(fā)揮了兩者很大的潛力，降低了成本，縮小了空間。并且為客戶省去了自己搭建系統(tǒng)的麻煩。

LYNXEA_XXX_M2雙通道時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器系統(tǒng)可以準(zhǔn)確測(cè)量trigger和APD1，triger和APD2，以及APD1和APD2各信號(hào)的時(shí)間差。時(shí)間分辨率可達(dá)60ps。

此外LYNXEA_XXX_M2雙通道時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器也可以作為兩立的單光子計(jì)數(shù)器獨(dú)立進(jìn)行使用。系統(tǒng)軟件提供單光子計(jì)數(shù)器及時(shí)間分辨測(cè)量?jī)蓚€(gè)界面，用戶可以通過(guò)軟件對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行各項(xiàng)參數(shù)的設(shè)定，及實(shí)時(shí)監(jiān)控。用戶還可以將原始數(shù)據(jù)以各種文件形式導(dǎo)出。客戶可以直接讀取系統(tǒng)輸出的TTL信號(hào)。

LYNXEA列時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器廣泛應(yīng)用于量子糾纏態(tài)符合計(jì)數(shù)、熒光壽命測(cè)量，高精度等領(lǐng)域。

主要應(yīng)用：
時(shí)間分辨熒光與發(fā)光光譜
熒光壽命成像（FLIM）
單分子測(cè)量(SMD)，單分子光譜(SMS)
光電器件的時(shí)間響應(yīng)特性
飛行時(shí)間測(cè)量
擴(kuò)散光學(xué)分子成像，光學(xué)斷層掃描，擴(kuò)散光學(xué)層析

相關(guān)背景資料：

時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)技術(shù)首先由 Bollinger、Bennett、Koechlin 三人在六十年代為檢測(cè)被射線激發(fā)的閃爍體發(fā)光而建立的,后來(lái)人們把它應(yīng)用到熒光壽命的測(cè)量。它的優(yōu)點(diǎn)如下：時(shí)間分辨本領(lǐng)好, 靈敏度高,測(cè)量精度高,動(dòng)態(tài)范圍大,輸出數(shù)據(jù)數(shù)字化,便于計(jì)算機(jī)存貯和處理等。在近代物理、化學(xué)、生物等領(lǐng)域中獲得了廣泛的應(yīng)用, 特別是在研究發(fā)光動(dòng)力學(xué)方面更有它特殊用途.

時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)器的基本原理是：用一個(gè)窄光脈沖激發(fā)樣品, 然后檢測(cè)樣品所發(fā)射的每一個(gè)熒光光子到達(dá)光信號(hào)接收器的時(shí)間。由TAC將此時(shí)間成比例的轉(zhuǎn)化為相應(yīng)的電壓脈沖，再將此電脈沖通過(guò)AD轉(zhuǎn)換通入多通道分析器，在多通道分析器中, 這些輸出脈沖均依次送人各通道中累加貯存。就獲得了與原始波形一致的直方圖。在某一時(shí)間間隔內(nèi)檢測(cè)到光子的幾率與熒光發(fā)射強(qiáng)度成正比例, 重復(fù)多次測(cè)量得到熒光強(qiáng)度衰變的規(guī)律。