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詳細(xì)介紹
光學(xué)視角檢測儀—近紅外光源測量
低成本和緊湊的3D成像技術(shù)在人臉識別、機(jī)器視覺或等各種應(yīng)用領(lǐng)域的巨大發(fā)展，對近紅外光源的表征提出了新的要求。在任何情況下，為了獲得精確的三維圖像，必須對其所有角度孔徑范圍內(nèi)的光源發(fā)射特性進(jìn)行精確表征和快速測量。
光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-STG是為近紅外中發(fā)光的DUT分析而優(yōu)化的。 光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-STG的設(shè)計(jì)是為了精確測量泛光照明器件、立體成像、照明器件的特性。
光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-STG是測量小孔徑近紅外源的理想工具，并為近紅外源如LED和激光器提供了一個(gè)有效的測量解決方案。
該系統(tǒng)可以在±70°視角錐內(nèi)獲得完整的地圖，具有良好的角度分辨率，工作距離為4mm，允許非接觸式測量。
推薦用于2.5 mm初始光瞳發(fā)射器。
DXY +/- 1mm的重復(fù)誤差優(yōu)于1%的位置，便于在線定位。
光學(xué)視角檢測儀VCProbe-NIR-STG校準(zhǔn)波長為940 nm，可用于研發(fā)和批量生產(chǎn)/質(zhì)檢應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)高速和精確的測量。
光學(xué)視角測試儀VCProbe-NIR-DSD是專門為精確測量近紅外源的小孔徑而設(shè)計(jì)的。該系統(tǒng)可以測量激光雷達(dá)、閃光激光雷達(dá)、激光二極管和VCSEL等各種光源。
該系統(tǒng)具有非接觸式測量，在一次測量中，產(chǎn)生±32°的視角，提供了顯著的0.05°的角度分辨率。
這是一個(gè)為單個(gè)VCSEL優(yōu)化的系統(tǒng)，工作距離為40mm。光學(xué)視角檢測儀VCProbe-NIR-DSD允許高速和精確的測量應(yīng)用研發(fā)以及批量生產(chǎn)/質(zhì)檢。
光學(xué)視角測試儀型號規(guī)格：
| 規(guī)格 | VCProbe-NIR-STG | VCProbe-NIR-DSD | ||
| STG-1 | STG-2 | |||
| 波長 | 強(qiáng)度 | Calibrated at 940 nm(*) | Calibrated at 850 nm - 905 nm - 940 nm | |
| 視場角 | 入射角 | ±70° | ±32° | |
| 方位角 | 0-360° | 0-360° | ||
| 工作距離 | / | 3.2 mm | 4 mm | 40 mm |
| 性能 | 光學(xué)分辨率 | 0.05° | 0.03° | |
| 線性化數(shù)據(jù) | / | 2801*2801 pixels | ||
| 光闌尺寸 | 樣本優(yōu)化 | / | 0.5mm / 1mm / 2.5mm | |
| 聚焦距離 | / | 100mm | 1000mm | |
| 精度 | 輻射 (W/sr/m2) | ±2% | ±2% | |
| 功率(W) | ±1% | ±1% | ||
| 節(jié)拍時(shí)間 | 曝光時(shí)間 | 300ms - 30 s | 300ms - 30s | |
| 處理傳輸時(shí)間 | Less than 1 s | Less than 1 s | ||
| 可選 | 近紅外發(fā)射體脈沖同步、速率和寬度測量 | |||
| 溫度穩(wěn)定的傳感器 | ||||
關(guān)于昊量光電：
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