SunScan 植物冠層分析儀(標(biāo)準(zhǔn)版)通過(guò)測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān) 于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測(cè)器也可被用來(lái)描繪作物冠層PAR的分布圖

原理：

根據(jù)冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來(lái)測(cè)量、計(jì)算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數(shù)

軟件計(jì)算

SunScan 植物冠層分析儀(標(biāo)準(zhǔn)版)主要是通過(guò)測(cè)量冠層截獲的光合有效輻射量(PAR)來(lái)計(jì)算葉面積指數(shù)（LAI），軟件中涉及到的參數(shù)有：

直射和散射入射輻射光、葉面積指數(shù)、葉片透光率、葉傾角、天頂角、穿透輻射。在這幾個(gè)參數(shù)中，天頂角是根據(jù)當(dāng)?shù)氐臅r(shí)間、經(jīng)度和緯度來(lái)計(jì)算的，葉片透光率和葉傾角是需要用戶自己估計(jì)的，其他的參數(shù)都是直接測(cè)量得出的

基本技術(shù)指標(biāo)：