超低硅分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
   靈敏：高選擇性檢測(cè)硅元素，檢測(cè)限達(dá)到0.6 ppm，是針對(duì)硅元素靈敏的X射線熒光光譜儀
   穩(wěn)定：XFS（X-Ray Fixed System）技術(shù)，光路工廠精密調(diào)諧后，不再產(chǎn)生位移或偏差，大限度的保證了儀器的*穩(wěn)定性。
5 ppm汽油樣品，*測(cè)試RSD值小于7%
   快速：?jiǎn)蝹€(gè)樣品準(zhǔn)備時(shí)間小于10 s；單個(gè)樣品分析時(shí)間長(zhǎng)1000 s；開(kāi)機(jī)10 min內(nèi)即可測(cè)試樣品
   經(jīng)濟(jì)：?jiǎn)蝹€(gè)樣品消耗小于4元/樣品，無(wú)氣體、溶劑等消耗
   方便：使用ESP：Easy Sample Prepare裝置，使得樣品杯與膜成型變得簡(jiǎn)單；長(zhǎng)時(shí)間使用無(wú)硬件更換；無(wú)需經(jīng)常校正標(biāo)準(zhǔn)曲線
性能指標(biāo)：
          檢出限：0.6 ppm（異辛烷基體中硅）
          準(zhǔn)確度：2±0.6 ppm,5±0.8 ppm，10±1 ppm
          穩(wěn)定性：5 ppm標(biāo)樣連續(xù)測(cè)試15次，RSD值10%以；同臺(tái)儀器15天以內(nèi)測(cè)試（每天兩次），RSD值15%以內(nèi)
          線性：0、1、2、5、10、50 ppm硅標(biāo)樣，線性99.9%以上
          測(cè)試時(shí)間：500 s—1000 s
超低硅分析儀應(yīng)用領(lǐng)域：
        汽油、柴油樣品中硅含量分析，煉油企業(yè)催化劑中硅含量分析，液體或固體中硅含量分析。

汽油在煉制過(guò)程中使用了含硅的試劑或催化劑，這些硅化合物在汽車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)中無(wú)法*燃燒，時(shí)間一長(zhǎng)硅的沉積物會(huì)造成氧氣傳感器失效等故障，因此汽油中硅元素的檢測(cè)被列入

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)制定范圍之列。
 針對(duì)硅元素的檢測(cè)儀器，主要有ICP和XRF兩種方法，相比于ICP方法，XRF方法使用方便，無(wú)需專(zhuān)業(yè)經(jīng)驗(yàn)人員即可操作使用，單波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（MWD XRF）更具有高靈敏

度以及*穩(wěn)定性等特點(diǎn)，是輕松應(yīng)對(duì)超低硅含量分析的利器。

依賴(lài)高通量雙向曲面彎晶核心技術(shù)，進(jìn)一步提升制造工藝，保證光路系統(tǒng)的精密度，DUBHE-1430成為世界上真正能夠?qū)⒐铏z出限降低到1 ppm以內(nèi)的X射線熒光光譜儀。
     
ICP與MWD XRF（DUBHE-1430）比較表