TMS-PRO和TMS-D能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類手機(jī)及Pad面板的透過率,可用于同一面板多個(gè)小孔測(cè)量,實(shí)時(shí)顯示單、多點(diǎn)波長(zhǎng)透過率數(shù)據(jù)及波段平均透過率數(shù)據(jù)、實(shí)時(shí)顯示半透波長(zhǎng)及透過率等。
TMS-PRO(單通道) TMS-D(雙通道)
儀器特點(diǎn):
- 采用大角度采集全穿透式測(cè)量
- 采用數(shù)字視頻對(duì)焦,使微小區(qū)域?qū)崿F(xiàn)精準(zhǔn)測(cè)量
- 實(shí)時(shí)顯示測(cè)量樣品關(guān)注波長(zhǎng)位置的透射率數(shù)據(jù)及半透波長(zhǎng)檢測(cè),自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍,可對(duì)批量樣品進(jìn)行高效檢測(cè)及譜圖對(duì)比分析
- 可自定義測(cè)量方案,設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn),自動(dòng)判定“OK"和“NG",使檢測(cè)更快速,結(jié)果更準(zhǔn)確
- 高性能探測(cè)器,單次測(cè)量小于1秒,重復(fù)性高
- 可對(duì)多孔進(jìn)行快速測(cè)量
- 最小測(cè)量孔徑可達(dá)φ0.3mm
應(yīng)用范圍:
- 手機(jī)面板IR孔、隱藏孔、霧化孔、閃光燈孔透過率測(cè)量
- 弧形邊IR孔、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板透過率測(cè)量
- 太陽膜、濾光片光學(xué)元件透光測(cè)量
功能特點(diǎn):
可測(cè)雙孔定位 可調(diào)極小樣品檢測(cè) 樣品平臺(tái)可XY微調(diào)
數(shù)字相機(jī)視頻對(duì)焦
智能化出結(jié)果
質(zhì)量檢驗(yàn)
用戶可以自定義質(zhì)量檢測(cè)項(xiàng)目,實(shí)時(shí)檢測(cè)和判斷任何波長(zhǎng)的數(shù)據(jù),并顯示OK或NG,使檢測(cè)更快,操作更方便。
技術(shù)參數(shù):
型號(hào) | TMS-PRO | TMS-D-Ⅰ | TMS-D-Ⅱ | |
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測(cè)量系統(tǒng) | 全光譜 | 全光譜 | 全光譜 | |
檢測(cè)器 | Hamamatsu薄型背照式CCD | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu薄型背照式CCD | |
檢出限 | 0.05% | 0.1% | 0.05% | |
光度準(zhǔn)確性 | 0.5% | 0.5% | 0.5% | |
光度重復(fù)性 | 0.2%(420~950nm) | 0.5%(420~950nm) | 0.2%(420~950nm) | |
波長(zhǎng)檢測(cè)范圍 | 380-1100nm | 380-1000nm | 380-1100nm | |
信噪比(全信號(hào)) | 450:1 | 250:1 | 450:1 | |
波長(zhǎng)重復(fù)率 | 0.1nm | |||
樣品測(cè)試平臺(tái) | X、Y軸可調(diào) | |||
光源 | 高功率鹵素光源 | |||
光斑直徑 | >0.2~1mm(可選) | |||
樣品大小 | ≥0.3mm | |||
測(cè)量時(shí)間 | <0.2s | |||
對(duì)焦方式 | 數(shù)字相機(jī)視頻對(duì)焦 | |||
物鏡 | 10X | |||
軟件 | Qspec Suite V1.0,可顯示單、多點(diǎn)波長(zhǎng)數(shù)據(jù),可手動(dòng)和自動(dòng)保存數(shù)據(jù),自動(dòng)統(tǒng)計(jì)所測(cè)產(chǎn)品批號(hào)總數(shù)、良品、不良品的數(shù)量及百分比并以報(bào)表的形式一鍵導(dǎo)出,超差報(bào)警提示,可根據(jù)用戶標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)機(jī)差。 | |||
操作系統(tǒng)/接口 | Windows 7~Windows 10/USB2.0 |