SUNPLUS SP-BS-1908黑點(diǎn)檢測(cè)儀
SUNPLUS 黑點(diǎn)檢測(cè)儀的用途
按相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)分析樹(shù)脂片或顆粒的雜質(zhì)黑點(diǎn)的大小、數(shù)量,以及黑點(diǎn)顆粒占比數(shù)。
適用于透明、半透明、不透明的膜片、顆粒,如PP、PE、PVC、PPS 等等。
也適用薄膜等透明體的黑點(diǎn)和內(nèi)在疵點(diǎn)的檢測(cè)和分析。
SUNPLUS SP-BS-1908黑點(diǎn)檢測(cè)儀的技術(shù)指標(biāo)
1. 測(cè)量規(guī)格:0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm,…,等等,按選用的標(biāo)準(zhǔn),可在軟件界面選定。
2. 最小檢測(cè)目標(biāo): 0.1mm
3. 檢測(cè)精度: 小于0.035mm
4. 檢測(cè)面積:不小于200×200mm
5. 器皿大?。?00mm×200mm 凈面積,用于顆粒黑點(diǎn)檢測(cè)。
6. 放大倍數(shù):>20 倍
7. 光密度:不小于6000 流明
8. 光源要求: 24V/60W
9. 供電電源:220V,50HZ
10.外形尺寸:約459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)
儀器功能特點(diǎn)
1. 測(cè)量黑點(diǎn)的大小和數(shù)量,以及黑點(diǎn)顆粒占比數(shù)。 SP-BS-1908 型 黑點(diǎn)檢測(cè)儀
2. 可提供黑點(diǎn)、損壞顆粒,以及膜片質(zhì)地紋路的分布圖譜。
3. 黑點(diǎn)或膜片質(zhì)地分布可放大和縮小。
4. 被測(cè)目標(biāo)可分類計(jì)數(shù)和統(tǒng)計(jì)。
5. 按適用的標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成檢測(cè)報(bào)告。
6. 報(bào)告和圖譜可打印可儲(chǔ)存。
7. 進(jìn)樣方向與屏幕顯示的走向一致,友好的界面視覺(jué)感。
8. 顆粒以透明器皿為載體,批次檢測(cè)。
9. 透明薄膜直接平鋪在檢測(cè)平臺(tái)上進(jìn)行檢測(cè),無(wú)需對(duì)薄膜作黑化或貼紙?zhí)幚怼?/p>
儀器的配置
☆ SP-BS-1908M 雜質(zhì)黑點(diǎn)檢測(cè)儀
☆ 標(biāo)準(zhǔn)板
☆ 透明器皿 (測(cè)顆粒用)
☆電腦工作站
☆ 應(yīng)用軟件