LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng)LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

詳細(xì)介紹

LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng)

該介電常數(shù)儀測試系統(tǒng)由測試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和自動測量控件以及電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。

系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的&佳解決方案。

工作特性

1. 平板電容器：

極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選

極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×10^－⁴（1MHz）

4．測微桿分辨率：0.001mm

工作原理

本測試裝置主要由一個數(shù)顯的微測量裝置和一組間距可調(diào)的平板電容器組成，平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數(shù)顯的微測量裝置，用于顯示被測材料樣品的厚度。陪測設(shè)備介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為調(diào)諧指示儀器，通過被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)材料樣品時的Q值變化，可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數(shù)。

北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司生產(chǎn)經(jīng)營多種型號介電常數(shù)儀，具體如下：

LDJD-C型

LDJD-B型

LDJD-A型

LDJD-C型塑料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng)

關(guān)鍵詞：數(shù)據(jù)采集絕緣材料電容器