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北京沃達谷科貿(mào)有限公司
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更新時間:2023-06-24 18:01:55瀏覽次數(shù):223次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線簡要描述:XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進行制備;具有膜層厚度控制精確,厚度均勻,性能穩(wěn)定等優(yōu)點,元素純度可達99.9%以上;同時綜合ICP和XRF等檢測技術(shù),可精確標定薄膜標樣的負載量。
XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品
奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術(shù)進行制備;具有膜層厚度控制精確,厚度均勻,性能穩(wěn)定等優(yōu)點,元素純度可達99.9%以上;同時綜合ICP和XRF等檢測技術(shù),可精確標定薄膜標樣的負載量。
《HJ 830-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環(huán)境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的工作曲線。
XRF薄膜標準樣品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五個負載量系列,其他負載量的產(chǎn)品可根據(jù)客戶實際需求定制。
可供應的XRF薄膜標準樣品的元素如下(可在表格內(nèi)打√選擇樣品):
元素
SL
VL
L
R
H
元素
SL
VL
L
R
H
Na (NaCl)
Co
Mg (MgF2)
Ni
Al
Cu
Si (SiO2)
Zn (ZnTe)
P (GaP)
As (GaAs)
S (CuSx)
Se
Cl (NaCl)
Sr (SrF2)
K (KCl)
Br (CsBr)
Ca (CaF2)
Cd (CdSe)
Sc (ScF3)
Ba (BaF2)
Ti
Pb
V
Sn
Cr
Sb
Mn
In
Fe
Mo
Ag
Hg (HgTe)
可提供超純鋁杯用于XRF測定大氣顆粒物的輔助設備,用以消除或減小合金材料樣品杯對樣品結(jié)果的影響;采用標準樣品研究所提供的湖南重金屬污染標準土壤樣品,參考NIST 2783標樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品,可用于XRF分析方法的驗證以及XRF實驗室日常質(zhì)控工作。
XRF薄膜標準樣品的安裝形式:
1、 安裝環(huán)尺寸(厚度為1.5mm的亞克力玻璃)
圓形:
代碼
外徑(mm)
內(nèi)徑(mm)
25
25
17
32
32
25
36
36
29
47
47
39
推薦36號尺寸。
方形:
50x50mm方形尺寸,內(nèi)置?32mm的圓環(huán),代碼50。
2、 支撐膜材料
代碼
支撐膜材料
備注
N
Nuclepore® polycarbonate
氣溶膠多孔膜
M6.3
6.3μm厚度麥拉膜(Mylar)
M3.5
3.5μm厚度麥拉膜(Mylar)
推薦M6.3型材料。
3、 鍍膜方式:
代碼
鍍膜位置排列
A
安裝環(huán)-元素膜-支撐膜
B
元素膜-支撐膜-安裝環(huán)
XRF熒光光譜儀薄膜標準樣品
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