王朝君
目錄:佳譜儀器(蘇州)有限公司>>環(huán)境保護(hù)系列產(chǎn)品>>貴金屬分析儀>> PM-350貴金屬檢測儀
貴金屬檢測儀原理:
由高能X射線激發(fā)原子電子層,使得原子核外電子發(fā)生躍遷,造成二次X射線能量釋放,因不同的元素釋放的能量具有不同特性,探測系統(tǒng)測量這些能量和數(shù)量,從而計算元素含量。
主要組成部件:
高壓-光管-探測器與前放-主放-DPP-控制模
塊-通信模塊-顯示系統(tǒng)等
對貴金屬進(jìn)行分析和克拉級別鑒定
目前使用XRF分析儀對貴金屬進(jìn)行化學(xué)成份分析及純度成色判斷已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎,并且有國家標(biāo)準(zhǔn)的支持,且性能可靠的方法。與火花試金法和化學(xué)試劑測試法相比,使用XRF對貴金屬進(jìn)行分析是一種更迅速、更經(jīng)濟(jì)的多元素檢測方法。
優(yōu)勢和特點:
。超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面
。易于使用,一鍵操作,即可獲得克拉等級及組成成份的分析結(jié)果
。有助于識別鍍金樣件的創(chuàng)新型功能
。機(jī)身結(jié)構(gòu)小巧結(jié)實,外形十分漂亮,適合放置于陳列展室
貴金屬檢測儀硬件性能及優(yōu)勢:
超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作
超快檢測速度、超人性化界面
超清攝像頭
光管電壓5KV - 50KV
高壓電源0 ~ 50KV Spellman(USA)
光管管流0μA~ 1000μA
濾光片可選擇多種定制切換
探測器Si-pin
分辦率Si-pin160土5eV
多道分析器JPSPEC-DPP
樣品腔尺寸310*280*
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)