恒電位儀

　　型號：WaveDriver200

　　品牌：美國PINE

　　產(chǎn)地：美國

　　PINE公司推出新一代WaveDriver200恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計，可以用于兩電極、三電極、四電極模式，具有交流阻抗功能(EIS)，可以廣泛地應(yīng)用于燃料電池、鋰電池、太陽能電池、隔膜、超級電容器、傳感器、涂層、緩蝕劑、物理化學(xué)等研究領(lǐng)域，經(jīng)典應(yīng)用為旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極(RRDE)測試。

　　主要特點：

　　高性價比、雙恒電位儀(四電極模式)、RRDE測試功能強(qiáng)大(6種測量模式)、EIS交流阻抗測試功能強(qiáng)大、軟件功能強(qiáng)大(可建測試模板、可編程測試等)。

　　詳細(xì)介紹：

　　接線：兩電極、三電極、四電極模式

　　具備浮地功能

　　最小電壓分辨率：78μV

　　最小電流分辨率：3.13pA

　　轉(zhuǎn)換速率：10 V/μs

　　紋波噪聲：<10mVRMS

　　模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器：16bit

　　順從電壓：±17V

　　泄漏電流：<10pA

　　帶寬(3dB)：>15 MHz

　　采樣點：1000萬個/每次實驗

　　儀器尺寸：160(寬)*255(高)*324(長)mm

　　儀器重量：4.6kg

　　IR補(bǔ)償：交流阻抗法(EIS)、電流中斷法(CI)、正反饋法(PF)

　　EIS交流阻抗參數(shù)

　　交流阻抗頻率范圍：10μHz-1 MHz

　　頻率精度：±10ppm

　　數(shù)據(jù)曲線：Lissajous、Bode、Nyqusit、 Mott-Schottky

　　數(shù)據(jù)模型：Circuitfit、Transmissionline、Kramers-Kronig

　　Circuit fitting方法：修正的Levenberg-Marquardt法、Simplex法、Powell法

　　Circuit fitting選項：動態(tài)選擇點、單位和參數(shù)

　　掃描方式：線性、對數(shù)、自定義

　　RRDE測試方法

　　Rotating Ring-Disk Voltammetry 旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極測試方法(RRDE)。 RRDE方法包含6種測試模式，功能強(qiáng)大。

　　Collection Mode：盤電極設(shè)置CV或LSV方法，環(huán)電極設(shè)置恒電壓CA方法;

　　Shielding Mode：盤電極設(shè)置恒電壓CA方法，環(huán)電極設(shè)置CV或LSV方法;

　　Window Mode：盤和環(huán)電極同時設(shè)置CV或LSV方法;

　　Diametric Mode：盤電極和環(huán)電極同時設(shè)置CV或LSV方法，但是呈鏡像測試;

　　Galvanostatic Mode：盤電極設(shè)置CV方法，環(huán)電極設(shè)置恒電流CP方法;

　　Galvanostatic ShieldingMode盤電極設(shè)置恒電流CP方法，環(huán)電極設(shè)置CV方法。

　　電壓參數(shù)

　　施加電壓：±15V

　　準(zhǔn)確性：±0.2%(設(shè)定電壓)、±0.05%(測量電壓)

　　電壓量程：3檔(±2.5 V, ±10 V, ±15 V)

　　電壓分辨率：對應(yīng)上述3檔量程分別為78 μV/bit、313 μV/bit和469μV/bit

　　電流參數(shù)

　　施加電流：±1A

　　適用電流工作范圍：±5pA到±1 A

　　準(zhǔn)確性：±0.2%(設(shè)定電流)、±0.05%(測量電流)

　　電流量程：8檔(從±100 nA到±1 A)

　　電流分辨率：0.0031%

　　電化學(xué)方法

　　Open Circuit Potential 開路電位法(OCP)

　　Bulk electrolysis 電解法(BE)

　　Cyclic Voltammetry 循環(huán)伏安法(CV)

　　Linear Sweep Voltammetry線性掃描伏安法(LSV)

　　Spectroelectrochemistry 光譜電化學(xué)測試方法(SPECE)

　　Staircase Voltammetry 階躍伏安法(SCV)

　　Chronoamperometry 計時電流法/恒電位法(CA)

　　Double Potential StepChronoamperometry 雙電位階躍計時電流法(DPSCA)

　　Cyclic StepChronoamperometry 循環(huán)階躍計時電流法(CSCA)

　　Chronopotentiometry 計時電位法(CP)

　　Ramp Chronopotentiometry斜坡計時電位法(RCP)

　　StaircasePotentiometry 階躍計時電位法(SCP)

　　Cyclic StepChronopotentiometry 循環(huán)階躍計時電位法(CSCP)

　　Differential pulseVoltammetry 差分脈沖伏安法(DPV)

　　Square-Wave Voltammetry 方波循環(huán)伏安法 (SWV)

　　NormalPulse Voltammetry 常規(guī)脈沖伏安法(NPV)

　　RotatingMethods 旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極測試方法

　　RotatingDisk Voltammetry (RDE)

　　RotatingDisk Koutecky-Levich (KL-RDE)

　　RotatingDisk Electrolysis (BE-RDE)

　　RotatingDisk Chronopotentiometry (CP-RDE)

　　RotatingDisk Ramp Chronopotentiometry (RCP-RDE)

　　RotatingRing-Disk Voltammetry (RRDE)

　　RotatingRing-Disk Electrolysis (BE-RRDE)

　　RotatingRing-Disk Koutecky-Levich (KL-RRDE)

　　Corrosion Methods 腐蝕電化學(xué)方法

　　Linear PolarizationResistance (LPR)

　　Rotating CylinderVoltammetry (RCE)

　　Rotating CylinderElectrolysis (BE-RCE)

　　Rotating CylinderEisenberg Study (EZB-RCE)

　　Rotating Cylinder Open CircuitPotential (OCP-RCE)

　　Rotating CylinderPolarization Resistance (LPR-RCE)

　　Rotating Cylinder Chronopotentiometry(CP-RCE)

　　Rotating Cylinder Ramp Chronopotentiometry(RCP-RCE)