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顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-A1

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北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

波長范圍	150-4200 cm-1@532 nmnm

MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測量功能*。通過把光譜測量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測試模塊等部分構(gòu)成。

詳細(xì)介紹

MicroTEQ-A1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測量功能^*。通過把光譜測量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測試模塊等部分構(gòu)成。

*注：使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內(nèi)的小孔（Pinhole）。

應(yīng)用范圍

定制顯微鏡

MicroTEQ-A1 系統(tǒng)可以適配不同品牌和種類的顯微鏡，客戶可根據(jù)需求自行挑選。同時(shí)，由于應(yīng)用領(lǐng)域的多樣性，客戶對系統(tǒng)性能的側(cè)重點(diǎn)各不相同，該系統(tǒng)對此提供定制服務(wù)，滿足客戶的不同需求。

系統(tǒng)參數(shù)