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XE-7 經(jīng)濟型原子力顯微鏡

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更新時間：2023-02-12 09:38:36瀏覽次數(shù)：130次

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產(chǎn)品簡介

XE-7 經(jīng)濟型原子力顯微鏡

詳細介紹

在同級產(chǎn)品中，Park XE7 能夠帶來高納米級分辨率的測量效果。得益于的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨立的 XY 軸和 Z 軸柔性掃描器，XE7 能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park 所的True Non-Contact™ 模式還能為您帶來的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。

Park XE7 擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學(xué)者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7 能夠全力推動研究生產(chǎn)力的提高，Park XE7 不僅僅是經(jīng)濟實惠的研究級原子力顯微鏡，也是總體成本低的原子力顯微鏡。

Park XE7 中所搭載的 True Non-Contact™ 模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針，并且它配有多功能的掃描模式，兼容性，讓您可隨時升級系統(tǒng)功能，從而延長產(chǎn)品的使用壽命。

的產(chǎn)品特點

1）Smartscan智能掃描模式，“1，2，3"點擊即可實現(xiàn)成像

2）Pinpoint Nanomechanical力控出圖模式，更*的力學(xué)形貌成像及各種電學(xué)測試

3）強大的內(nèi)置集成軟件系統(tǒng)，自帶LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模式

技術(shù)特點

1. XY 軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強度壓電疊堆，可在保持平面外運動少的情況下，實現(xiàn)高正交運動以及納米級樣品掃描下的高響應(yīng)度。緊湊且堅固的結(jié)構(gòu)是為了低噪聲高速伺服回應(yīng)而設(shè)計的；

2. Z 軸掃描范圍可從標(biāo)準(zhǔn)的12 µm增至40µm（選購遠距離 Z 軸掃描器）

3.燕尾式軌道設(shè)計，輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。借助超輻射發(fā)光二極管(SLD) 的低相干性，顯微鏡可精確成像高度反光表面和精密測量 pico-Newton 力對距光譜；

4.在手動 XY 軸樣品臺的精確控制下，樣品的測量定位變得簡單。XY 軸樣品臺的行程范圍是13 mm x 13 mm；

5.原子力顯微鏡的納米級信號是由高性能的 Park XE 電子控制器所控制和處理的。憑借著低噪聲設(shè)計和高速處理單元，Park XE 電子控制器成功實現(xiàn)了True Non-Contact™ 模式，這是納米級成像和精確電壓電流測量的選擇。

主要功能模式