CSI是一家法國科學(xué)設(shè)備制造商,擁有專業(yè)的AFM設(shè)計概念,以及為現(xiàn)有的AFM提供設(shè)計選項。該公司是由一個專家團隊成立的,他們在AFM領(lǐng)域工作超過20年。作為一些有制造商歷史背景的,以經(jīng)驗創(chuàng)造了Nano-Observer在模擬及數(shù)字電子器件和高級組件之間找到了最的組合。一個高品質(zhì)的研究型AFM同時滿足高級用戶和初學(xué)者的要求。它避免了激光對準(zhǔn)需要預(yù)先定位針尖的系統(tǒng),針尖/樣品的頂部和側(cè)視圖,結(jié)合垂直的馬達控制系統(tǒng),使預(yù)先趨近更加容易,通過光學(xué)視窗和X-Y樣品平移臺相結(jié)合使得樣品定位簡單,給了任何研究型實驗室或工廠提供了負(fù)擔(dān)得起的解決方案。
基本技術(shù)特點
1)控制器規(guī)格
XY掃描范圍 100 μm(±10%),Z軸掃描范圍9μm (±10%),XY驅(qū)動分辨率24位控制-0.06?m
數(shù)據(jù)采樣點高達4096
2)預(yù)先配置的模式
不需要不需要增加額外的模塊就能實現(xiàn)所有需要的測量,通過簡單地選擇AFM模式,軟件驅(qū)動和連接到相應(yīng)的電子設(shè)備不會產(chǎn)生
錯誤或損害。通過一個簡單的點擊,你可以在所有的AFM模式之間切,
3)柔性材料電學(xué)測試ResiScope
柔性ResiScope原理是基于間歇接觸,樣品的摩擦禮盒針尖的恒定力提供定量的測量,不損壞精細(xì)樣品的表面。
4)高清KFM模式
除了標(biāo)準(zhǔn)的KFM模式, Nano-Observer還能提供一種高清KFM模式,極大提高了分辨率,并提高了表面電位的測量靈敏度,
5)Nano-Observer環(huán)境控制
設(shè)計提供了環(huán)境控制模塊(氣體,濕度,溫度),為提高電器測量性能或者保護樣品免受氧化
應(yīng)用
普通樣品/生物樣品表面形貌
多模塊配置測量(PFM/KFM/EAFM/CAFM等)
通過ResiScopeTM模式掃描(超過10個數(shù)量級的電流,電阻)。