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日立掃描電子顯微鏡

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產品型號S--3400N

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更新時間：2023-03-14 16:00:47瀏覽次數：227次

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產品簡介

日立掃描電子顯微鏡S-3400N型具有新開發(fā)的電子光學系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易

詳細介紹

日立掃描電子顯微鏡S-3400N型具有新開發(fā)的電子光學系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易。

一、日立掃描電子顯微鏡S-3400N型的特點

1. S-3400N具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、
自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。
2. 在3kV低加速電壓時保證有10nm的分辨率。
3. 新型5分割高靈敏半導體式背散射探頭。
4. S-3400N II型具有五軸馬達臺，傾斜角度可達-20度~+90度，樣品可達80mm。
5. 分析樣品倉可以同時安裝EDX ， WDX 及EBSD。
6. 真空系統(tǒng)使用渦輪分子泵，潔凈、高效。

二、日立掃描電子顯微鏡S-3400N型的技術指標

項目	描述
SE分辨率	3.0nm (30kV)，高真空模式 10nm (3kV), 高真空模式
BSE分辨率	4.0nm (30kV)，低真空模式
放大倍率	x5 ~ x300,000
加速電壓	0.3 ~ 30 kV
低真空范圍	6 ~ 270 Pa
樣品尺寸	直徑200mm
樣品臺	I型	II型
X	0 ~ 80mm	0 ~ 100mm
Y	0 ~ 40mm	0 ~ 50mm
Z	5 ~ 35mm	5 ~ 65mm
R	360º	360º
T	-20º~ +90º	-20º ~ +90º
樣品高度	35mm (WD=10mm)	80mm (WD=10mm)
驅動類型	手動	五軸馬達驅動
燈絲	預對中鎢燈絲
物鏡光欄	可移動式4孔物鏡光欄
槍偏壓	固定比例偏壓、手動偏壓和自動4偏
檢測器	二次電子檢測器高靈敏度半導體背散射電子檢測器
分析位置	WD=10mm, TOA=35o
控制	鼠標、鍵盤，手動旋鈕
自動調校	自動燈絲飽和、自動4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸、自動聚焦消像散、自動亮度對比度