X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。
X射線熒光分析儀原理及特點:
熒光,顧名思義就是在光的照射下發(fā)出的光。
從原子物理學的知識我們知道,對每一種化學元素的原子來說,都有其特定的能級結(jié)構,其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行,內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子核的束縛,成為自由電子,我們說原子被激發(fā)了,處于激發(fā)態(tài),這時,其他的外層電子便會這一空位,也就是所謂躍遷,同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結(jié)構都是特定的,它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的,稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量,便可以確定相應元素的存在,而特征X射線的強弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量。
量子力學知識告訴我們,X 射線具有波粒二象性,既可以看作粒子,也可以看作電磁波。看作粒子時的能量和看作電磁波時的波長有著一一對應關系。這就是的普朗克公式:E=hc/λ。顯然,無論是測定能量,還是波長,都可以實現(xiàn)對相應元素的分析,其效果是一樣的。
X熒光分析儀儀器特點:
電制冷探測器,可以快速分析從11Na到92U之間的全部元素,精度高、測量時間短,它可以廣泛用于有色礦山、鋼鐵、水泥、耐火材料、不銹鋼、合金等領域。
為了滿足現(xiàn)代企業(yè)管理和生產(chǎn)要求,必須對生產(chǎn)過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制,傳統(tǒng)的化學分析方法已經(jīng)不能滿足生產(chǎn)過程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達到良好的質(zhì)量控制指標,大都配備了相應的分析儀。
X熒光光譜儀主要用途:
X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強度,可以 測定元素含量。
近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域,特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
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