磁性渦流兩用，無線藍(lán)牙，語音播報，線性溫度補(bǔ)償高精度。
覆層測厚儀- 涂層測厚儀是一種經(jīng)濟(jì)實用型便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)的儀器。
涂層測厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
亮點
的溫度補(bǔ)償算法
支持10點基本校準(zhǔn)、溫度校準(zhǔn)、零點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)等多種校準(zhǔn)模式
支持語音播報
支持藍(lán)牙無線打印
特點：
采用了磁性和渦流兩種測厚方法，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
分體（傳感器與儀器之間通過引線連接）、兩用（F型N型合一）。
具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL)；
設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
可采用兩種方法對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有存貯功能：可存貯500 個測量值；
具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測量；
可設(shè)置限界：對限界外的測量值能自動報警；
能實時顯示電量；
操作過程有蜂鳴聲提示，并可選擇關(guān)閉蜂鳴器；
待機(jī)時間可調(diào)，超過待機(jī)時間自動關(guān)閉；
屏幕對比度可調(diào)；
具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴器聲進(jìn)行錯誤提示；
設(shè)有兩種關(guān)機(jī)模式：手動關(guān)機(jī)和自動關(guān)機(jī)。
測量原理：
涂層測厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F型測頭): 當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
b) 渦流法(N型測頭也叫非磁性):利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
技術(shù)參數(shù)：
測量范圍：0-1250 μm
分辨力：0.1μm（0~50μm ），1μm（>50μm ）
測量誤差：3%H+1μm（H為測量范圍）
最小曲率半徑：1.5mm（F型）、3mm（N型 ）
基體臨界厚度：0.5mm（F型）、0.3mm（N型）
最小基體直徑： 7mm（F型）、5mm（N型）
探頭類型： F型、N型分體式探頭
報警功能： 可設(shè)置限界，對限界外的測量值能自動蜂鳴報警
工作電壓： 3*1.5V
自動關(guān)機(jī)： 連續(xù)2分鐘無動作自動關(guān)閉，有開關(guān)按鈕
外形尺寸： 155mm*68mm*27 mm
整機(jī)重量： 230g
基本配置：
主機(jī) 1臺
F1或N1測頭 1支
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 1套
電池 2個
通訊電纜 1個
軟件 1個
手提箱 1個 合格證，保修卡，說明書等文字資料
附帶技術(shù)參數(shù)表
| 測頭型號 | F1 | N1 |
| 工作原理 | 磁 感 應(yīng) | |
| 測量范圍(um) | 0～1250 | 0～1250 銅上鍍鉻 0～40um |
| 低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 |
| 示值 誤差 | 一點校準(zhǔn)(um) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1.5) |
| 二點校準(zhǔn)(um) | ±((1～3)%H+1) | ±[(1～3)%H+1.5] |
| 測 試 條 件 | 最小曲率半徑(mm) | 凸 | 1.5 | 3 |
| 最小面積的直徑(mm) | Ø5 | Ø5 |
| 基體臨界厚度(mm) | 0.5 | 0.3 |
注：H——標(biāo)稱值
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