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濟寧儒佳檢測儀器有限公司


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產(chǎn)品簡介

1概述:本儀器是基于超聲波測量技術(shù)的智能型超聲波測厚儀,采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù),可以測量金屬及其它多種材料的厚度,并可以對材料的超聲波聲速進行測量

詳細介紹

1 概述:

本儀器是基于超聲波測量技術(shù)的智能型超聲波測厚儀,采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù),可以測量金屬及其它多種材料的厚度,并可以對材料的超聲波聲速進行測量。此外,該儀器可以對生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進行監(jiān)測,監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度,也可以對各種板材和各種加工零件作精確測量。本儀器可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領(lǐng)域。

2產(chǎn)品簡介

·適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度。

·可配備多種不同頻率不同晶片尺寸的雙晶探頭使用。

·具有探頭零點校準(zhǔn),兩點校準(zhǔn)功能,可對系統(tǒng)誤差進行自動修正

·已知厚度可以反測聲速,以提高測量精度。

·具有耦合狀態(tài)提示功能。

·LED背光顯示,方便在光線昏暗環(huán)境中使用。

·有剩余電量指示功能,可實時顯示電池剩余電量。

·具有自動休眠、自動關(guān)機等節(jié)電功能。

·帶有RS232接口,可以方便、快捷地與PC機進行數(shù)據(jù)交換,可以連接到微型打印機(廠家型號)打印測量報告

·可選擇配備微機軟件,具有傳輸測量結(jié)果、測值存儲管理、測值統(tǒng)計分析、打印測值報告等豐富功能。

·公制與英制一鍵轉(zhuǎn)換。

·主機一年內(nèi)出現(xiàn)質(zhì)量問題,免費換新,終生免費維修。

2.1 工作原理:

本超聲波測厚儀對厚度的測量,是由探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過耦合劑到達被測體,一部分超聲波信號被物體底面反射,探頭接收由被測體底面反射的回波,精確地計算超聲波的往返時間,并按下式計算厚度值,再將計算結(jié)果顯示出來。

H-測量厚度;V-超聲波在該材料中的速度;

t-超聲波在試件中往返一次的傳播時間。

2.2儀器配置及探頭選擇:

表1-1 儀器配置


序號

名稱

數(shù)量

備注

標(biāo)準(zhǔn)配置

1

主機

1臺


2

標(biāo)準(zhǔn)探頭(BT-08)

1只


3

耦合劑

1瓶


4

儀器箱

1只


5

使用說明書

1份


6

AA堿性電池

2只


可選配置

7

粗晶探頭(ZT-12)



8

小徑管探頭(XT-06)



9

高溫探頭(GT-350)



10

微型打印機

1臺

計算機上應(yīng)用

11

打印線纜

1條

12

數(shù)據(jù)管理軟件

1套

13

通訊線纜

1條

1-2 探頭選擇

名稱

型號

頻 率

(MHZ)

探 頭

直 徑

測量范圍

最小管徑

特性描述

粗晶探頭

ZT-12

2

12mm

3.0mm~300.0mm(鋼)40mm以下(灰鑄鐵)

Φ20mm

用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測量

標(biāo)準(zhǔn)探頭

BT-08

5

8mm

1.0mm~230.0mm(鋼)

Φ20mm×3.0mm

通用

小徑管探頭

XT-06

7.5

6mm

0.75mm~80.0mm(鋼)

Φ15mm×2.0mm

用于薄壁及小弧面管材的測量

高溫探頭

GT-350

5

10mm

3.0m m~200mm (鋼)

Φ30mm

用于溫度小于350℃的材料的測量

2.3使用環(huán)境:

環(huán)境溫度:操作溫度-20℃~50℃;相對濕度≤90%;

周圍環(huán)境無強烈振動、無強磁場、無腐蝕性介質(zhì)及嚴(yán)重粉塵。

3 結(jié)構(gòu)與外觀:

1—外殼 2—鍵盤 3—液晶屏 4—發(fā)射插座 5—接收插座

6—校準(zhǔn)厚度塊 7—銘牌 8—電池倉蓋 9—超聲探頭

儀器長時間不使用時應(yīng)將電池取出,以免電池漏液,腐蝕儀器盒與電極片。

注意:電池安裝時的正負極性!極性顛倒可能導(dǎo)致儀器損壞!

3.1 鍵盤定義:

儀器開關(guān)鍵

參數(shù)修改鍵

背光開關(guān)鍵

確認鍵

儀器校準(zhǔn)鍵

數(shù)值增加鍵

測量模式選擇鍵

單位制切換/退出鍵

數(shù)值減小鍵

提示音開關(guān)鍵

數(shù)據(jù)存儲/刪除鍵



3.2 主顯示界面:

儀器開機后會自動進入主顯示界面,如下圖所示:

耦合狀態(tài):探頭與被測工件的耦合標(biāo)志;

單位制式:mm、m/s(公制式),或者in、in/μs(英制式);

電池電量:電池剩余電量顯示;

信息顯示:顯示厚度測量值,以及簡單的操作提示信息。

4測量與操作:

4.1 測量前準(zhǔn)備:

新購儀器請參照儀器配置仔細核對儀器及附件,不全時請及時與廠家聯(lián)系。

4.1.1 探頭選擇:

根據(jù)被測對象的厚度及形狀,參考本手冊1.4的表1-2來選擇探頭。

4.1.2 被測工件的表面處理:

若被測體表面很粗糙或銹蝕嚴(yán)重,請用以下方法處理:

(1)在被測體表面使用耦合劑;

(2)利用除銹劑、鋼絲刷或砂紙?zhí)幚肀粶y體表面;

(3)在同一點附近進行多次測量。

4.2 儀器操作:

4.2.1 儀器開、關(guān)機:

(1)將探頭插頭插入儀器探頭插座中;

(2)按鍵,伴隨著開機蜂鳴聲,儀器屏幕顯示開機畫面后自動進入測量界面,并顯示當(dāng)前儀器中設(shè)置的聲速值,此時儀器的各參數(shù)為上次關(guān)機前使用的參數(shù);

(3)在開機狀態(tài)下,按鍵可以實現(xiàn)關(guān)機操作。

4.2.2 探頭零點校準(zhǔn):

在每次更換探頭、改變聲速、更換電池、環(huán)境溫度變化較大或者測量超出誤差范圍時應(yīng)進行校準(zhǔn)。此步驟對保證測量準(zhǔn)確度十分關(guān)鍵。如有必要,可重復(fù)多次。步驟如下:

(1)按鍵,操作提示顯示當(dāng)前探頭頻率;

(2)按鍵及鍵,設(shè)定為正在使用的探頭頻率,設(shè)置探頭類型時請參照表3-1;

表3-1 探頭頻率設(shè)置對應(yīng)表

探頭型號

對應(yīng)設(shè)置探頭頻率

ZT-12

PT-02

BT-08

PT-05

XT-06

PT-07

GT-350

PT-05

將耦合劑均勻涂于探頭上,將探頭與儀器上提供的標(biāo)準(zhǔn)試塊(厚度4.0mm)表面緊密耦合((4.0±0.1)mm,當(dāng)聲速為5920m/s時);

(3)儀器顯示校準(zhǔn)測量值((4.0±0.1)mm,當(dāng)聲速為5920m/s時),校準(zhǔn)過程完畢。

注意:只限于將探頭耦合在儀器面板上的標(biāo)準(zhǔn)試塊上進行校準(zhǔn),而不得在其它任何試塊上使用此鍵,否則將引起測量錯誤。

4.2.3 聲速設(shè)置:

當(dāng)已知材料的聲速時,可以利用儀器提供的聲速調(diào)節(jié)功能,并依據(jù)附表中的參考聲速值,調(diào)整儀器的內(nèi)置聲速值。操作方法為:

(1)按鍵,進入儀器參數(shù)調(diào)整狀態(tài),此時屏幕上的“mm"或者“in"開始閃爍;

(2)再次按鍵,m/s或者in/μs開始閃爍;

(3)按鍵在儀器內(nèi)置的聲速值之間切換,或者按鍵及鍵修改聲速值;

(4)按鍵結(jié)束儀器參數(shù)調(diào)整狀態(tài)。

4.2.4 厚度測量:

將耦合劑均勻涂于被測區(qū)域,將探頭與被測材料表面緊密耦合,屏幕將顯示被測區(qū)域的測量厚度。當(dāng)探頭與被測材料良好耦合時,屏幕將顯示耦合狀態(tài)標(biāo)志,移開探頭后,耦合標(biāo)志消失,厚度值保持。如果耦合標(biāo)志閃爍或無耦合標(biāo)志則表示耦合狀況不好。

4.2.5 聲速測量:

在被測材料的聲速未知時,可利用儀器提供的聲速測量功能計算材料的聲速值。注意,利用這一功能時,請用戶使用與被測材料同質(zhì)并已知厚度的不同厚度三塊試塊。具體操作過程如下:

(1)首*行一次探頭零點校準(zhǔn);

(2)測量已知厚度試塊的厚度值;

(3)按鍵,進入儀器參數(shù)調(diào)整狀態(tài),此時屏幕上的“mm"或者“in"開始閃爍;

(4)按鍵及鍵調(diào)整該測量值到實際已知厚度值;

(5)按鍵,m/s或者in/μs開始閃爍,儀器現(xiàn)在顯示的聲速即為計算后的聲速測量值;

(6)重復(fù)上述1-5項過程記錄下此數(shù)值,測量另外兩塊試塊的聲速值并記錄下數(shù)值,最后取三個聲速值的平均值即為該材料的聲速值;

(7)再次按鍵結(jié)束儀器參數(shù)調(diào)整狀態(tài)。

4.2.6 兩點校準(zhǔn):

兩點校準(zhǔn)可以同時校準(zhǔn)探頭零點和材料聲速,從而提高厚度測量精度。選擇與被測物的材料、聲速及曲率相同的兩個標(biāo)準(zhǔn)試塊,其中一個試塊的厚度等于或略高于使用中實際測量范圍的上限(試塊A),另一個試塊的厚度盡可能接近測量范圍的下限(試塊B)。操作步驟為:

(1)首*行一次探頭零點校準(zhǔn);

(2)測量試塊A的厚度值;

(3)按鍵,進入儀器參數(shù)調(diào)整狀態(tài),此時屏幕上的“mm"或者“in"開始閃爍;

(4)按鍵及鍵調(diào)整該測量值到試塊A的實際已知厚度值;

(5)按鍵,屏幕上顯示“1OF2"的提示信息,提示繼續(xù)測量下一個厚度值;

(6)測量試塊B的厚度值;

(7)按鍵及鍵調(diào)整該測量值到試塊B的實際已知厚度值;

(8)按鍵,m/s或者in/μs開始閃爍,儀器現(xiàn)在顯示的聲速即為計算后的聲速測量值;

(9)再次按鍵結(jié)束儀器參數(shù)調(diào)整狀態(tài)。

4.2.7 設(shè)置測厚模式:

該儀器有兩種測厚模式:單點模式和掃描模式。單點模式:將儀器的探頭耦合到被測工件上,儀器就會測出該點處的厚度。掃描模式:將探頭耦合到工件上并沿工件表面移動,當(dāng)探頭被拿起時,儀器就會閃爍顯示所掃查區(qū)域內(nèi)的最小厚度值,5秒鐘后停止閃爍(屏幕閃爍顯示厚度值時,表示本次掃描測量尚未結(jié)束,可以繼續(xù)測量)。單點模式的測量頻率為每秒鐘4次,掃描模式的測量頻率為每秒鐘10次,后者快于前者。

測厚模式的改變可以通過下面的操作來實現(xiàn):按鍵改變當(dāng)前設(shè)置,屏幕顯示改變后的測厚模式,單點模式顯示為:SCAN OFF,掃描模式顯示為:SCAN ON。

4.2.8 設(shè)置測量精度:

對于分辨率為0.01mm的超聲波測厚儀型號,用戶可根據(jù)實際情況手動調(diào)整所需要的測量精度。在選擇高精度時,要求被測工件的表面比較光滑,以便測量得到精確的數(shù)據(jù)。當(dāng)測量粗糙表面或者粗晶材料時建議使用低精度。

設(shè)置方法:關(guān)機狀態(tài)下,按住鍵的同時按下鍵,待儀器開機后再松開按鍵,儀器的顯示分辨率會在0.1mm和0.01mm之間進行切換。

4.2.9 單位制式轉(zhuǎn)換:

該儀器可以公制或者英制顯示厚度和聲速。在厚度測量過程中,按鍵可以在公制(厚度:mm,聲速:m/s)和英制(厚度:in,聲速:in/µs)之間進行切換。

4.2.10 存儲功能:

(1)存儲測量值:

儀器中將存儲單元分成20個文件(F00-F19),每個文件可存儲最多100個厚度測量值。厚度測量后可直接按鍵將測量值存入當(dāng)前文件中,如果要改變當(dāng)前文件的名稱,需要按下述步驟進行:

a.在厚度測量狀態(tài)下,按鍵,屏幕顯示當(dāng)前文件名稱(例如:F02)和當(dāng)前文件中的記錄總數(shù);

b.按鍵及鍵改變當(dāng)前文件名稱;

c.按鍵結(jié)束操作。

存儲厚度值時,如果當(dāng)前文件中的記錄總數(shù)已經(jīng)達到100個,則儀器會自動取消本次存儲操作,并且屏幕會顯示“FULL"提示信息。

(2)清空文件:

如果要清空某個文件中的所有已存儲內(nèi)容,則需要按照下述步驟進行:

a.在厚度測量狀態(tài)下,按鍵,屏幕顯示當(dāng)前文件名稱和當(dāng)前文件中的記錄總數(shù)。

b.按鍵及鍵選擇要清空的文件名稱。

c.按鍵清空選定的文件,屏幕同時顯示“-DEL"提示信息。

d.按鍵結(jié)束操作。

(3)查看/刪除存儲記錄:

儀器中存儲的厚度值可以調(diào)出查看,也可以刪除某個厚度記錄。操作方法如下:

a.在厚度測量狀態(tài)下,按鍵,屏幕顯示當(dāng)前文件名稱和當(dāng)前文件中的記錄總數(shù)。

b.按鍵及鍵選擇要查看的記錄所在的文件名稱。

c.按鍵進入選定的文件。屏幕顯示出該文件中的當(dāng)前記錄編號(如:L012),以及該記錄的內(nèi)容。

d.按鍵及鍵選擇要查看的記錄編號,該記錄的內(nèi)容和記錄編號交替顯示在屏幕上。

e.按鍵刪除該記錄。屏幕同時顯示“-DEL"提示信息。

f.按鍵結(jié)束操作。

4.2.11 厚度值打?。?/span>

可以通過打印線纜連接到微型打印機(廠家型號)打印厚度報告。將打印線纜的一端的圓形插頭插入主機的RS232通信插座中,將另一端插頭插入微型打印機的通訊口。然后:

(1)將儀器和微型打印機上電開機。

(2)在厚度測量狀態(tài)下,按鍵,屏幕顯示當(dāng)前文件名稱和當(dāng)前文件中的記錄總數(shù)。

(3)按鍵及鍵選擇要打印的文件名稱。

(4)按鍵打印選定的文件。

4.2.12 警示聲音設(shè)置:

設(shè)為【開】時,在每次按鍵、測量完成、測量值超出測量范圍、刪除數(shù)據(jù)等情況下蜂鳴器都會長鳴一聲。

警示聲音設(shè)置的改變可以通過下面的操作來實現(xiàn):在厚度測量模式下,按鍵改變當(dāng)前設(shè)置,屏幕顯示警示聲音當(dāng)前設(shè)置,【開】顯示為:BEEP ON,【關(guān)】顯示為:BEEP OFF。

4.2.13 EL背光:

鍵可以打開或者關(guān)閉背光。

儀器液晶屏帶有EL背光功能,以便在光線昏暗處可以讀取測量值。由于背光打開后,儀器功耗明顯增加,所以請在必要的時候才打開背光,以節(jié)約用電,延長電池使用時間。

4.2.14 電池電量指示:

儀器主機內(nèi)裝有串聯(lián)連接的2節(jié)AA堿性電池。電池電量充足時,電量指示符號滿格顯示;電池用過一段時間后,電池符號會顯示為非滿格;電池接近用完時,電池符號會閃動顯示,此時應(yīng)該立即更換電池。

4.2.15關(guān)機方式:

l儀器具有自動關(guān)機功能,以節(jié)省電池電能。

l如果在5分鐘內(nèi)既沒有測量,也沒有任何按鍵操作,儀器會自動關(guān)機,在關(guān)機前液晶屏幕會閃爍顯示20秒,這時按除鍵外的任意鍵,或者進行一次測量操作,都可以使液晶屏幕停止閃動并停止關(guān)機操作。當(dāng)電池電壓過低時,儀器會自動關(guān)機。

4.2.16 恢復(fù)出廠設(shè)置:

開機時,按住鍵的同時按下鍵,儀器的所有測量參數(shù)和系統(tǒng)設(shè)置將恢復(fù)到出廠狀態(tài),儀器內(nèi)部存儲的測量數(shù)據(jù)也將同時被清空。按鍵結(jié)束操作。

4.2.17 與PC機通訊:

將通訊電纜一端的圓形插頭插入主機通訊板上的RS232通信插座中,將另一端插頭插入計算機的串行口(COM)中。在PC機上運行DataPro數(shù)據(jù)管理軟件,按照DataPro 數(shù)據(jù)管理軟件操作手冊的指引,可以對儀器內(nèi)存儲的數(shù)據(jù)下載到PC機中,并可以進行后續(xù)的數(shù)據(jù)處理、保存、打印等操作。

5 測量中的幾種方法:

l(1)單點測量法:在被測體上任一點,利用探頭測量,顯示值即為厚度值;

l(2)兩點測量法:在被測體的同一點用探頭進行二次測量,在二次測量中,探頭的分割面成90o,取其中的較小值為厚度值;

l(3)多點測量法:在直徑約為30 mm的圓內(nèi)進行多次測量,取其最小值為厚度值;

l(4)連續(xù)測量法:用單點測量法,沿線路連續(xù)測量,其間隔不小于5 mm,取其中最小值為被測體厚度值;

l(5)管壁測量時,探頭分割面可分別沿管材的軸線或垂直管材的軸線測量。若管徑大時,測量應(yīng)在垂直軸線的方向測量;管徑小時,應(yīng)在兩個方向測量,取其中最小值為厚度值。

6 維護及注意事項:

6.1 電源檢查:

電池容量接近用完或用完時,應(yīng)該及時更換電池,以免影響測量精度。儀器長時間不使用時應(yīng)將電池取出,以免電池漏液,腐蝕儀器盒與電極片。

注意:電池安裝時的正負極性!極性顛倒可能導(dǎo)致儀器損壞!

6.2 一般注意事項:

l(1)應(yīng)避免儀器及探頭受到強烈震動;

l(2)避免儀器置于過于潮濕的環(huán)境中;

l(3)插拔探頭時,應(yīng)捏住活動外套沿軸線用力,不可旋轉(zhuǎn)插頭,以免損壞探頭電纜芯線;

l(4)油、灰塵的附著會使探頭線逐漸老化、斷裂,使用后應(yīng)清除污垢。

6.3 測量中注意事項:

l(1)測量時,只有出現(xiàn)耦合標(biāo)志并穩(wěn)定時,才是良好的測量;

l(2)若被測體表面有大量耦合劑時,當(dāng)探頭離開被測體表面時,耦合劑會引起誤測。因此測量結(jié)束時,應(yīng)迅速將探頭移開被測體表面;

l(3)探頭表面為樹脂,對粗糙表面的重劃很敏感,因此在使用中應(yīng)輕按,測粗糙表面時,盡量減少探頭在工作表面的劃動;

l(4)常溫測量時,被測物表面不應(yīng)超過50℃,否則探頭不能再用;

l(5)若探頭磨損,測量會出現(xiàn)示值不穩(wěn),此時應(yīng)更換探頭。

6.4 標(biāo)準(zhǔn)試塊的清潔:

由于使用標(biāo)準(zhǔn)試塊對儀器進行校準(zhǔn)時,需涂耦合劑,所以請注意試塊的防銹。使用后將標(biāo)準(zhǔn)試塊擦干凈。氣溫較高時不要沾上汗液。長期不使用應(yīng)在隨機試塊表面涂上少許油脂防銹,當(dāng)再次使用時,將油脂擦凈后,即可進行正常工作。

6.5 機殼的清潔:

酒精、稀釋液等對機殼尤其是視窗有腐蝕作用,故清洗時,用少量清水輕輕擦拭即可。

6.6 儀器維修:

當(dāng)儀器出現(xiàn)非正常現(xiàn)象(如儀器損壞,不能測量;液晶顯示不正常;正常使用時,誤差過大;鍵盤操作失靈或混亂等)時,請用戶不要拆卸或調(diào)節(jié)任何固定裝配零部件,請?zhí)钔妆P蘅ê?,交由我公司維修部門,進行維修。

7 貯存與運輸條件:

l貯存時應(yīng)遠離振動、強磁場、腐蝕性介質(zhì)、潮濕、塵埃,應(yīng)在常溫下貯存。

l運輸時在保證原包裝的狀態(tài)下,可在三級公路條件下進行。

附錄A 超聲測厚中的常見問題與處理方法

A.1 表面狀況對測量結(jié)果的影響:

A.1.1 表面覆蓋物:

測量前應(yīng)清除被測物體表面所有的灰塵、污垢及銹蝕物,鏟除油漆等覆蓋物。

A.1.2 粗糙表面:

過于粗糙的表面會引起測量誤差,甚至儀器無讀數(shù)。測量前應(yīng)盡量使被測材料表面光滑,可使用磨、拋、銼等方法使其光滑。還可使用高粘度耦合劑。

A.1.3 粗加工表面:

粗加工表面(如車床或刨床)所造成的有規(guī)則的細槽也會引起測量誤差,處理方法同上。另外調(diào)整超聲探頭串音隔層板(穿過探頭底面中心的金屬薄層)與被測材料細槽之間的夾角,使隔層板與細槽相互垂直或平行,取讀數(shù)中的最小值作為測量厚度,可取得較好效果。

A.1.4 圓柱型表面:

測量圓柱型材料,如管子、油桶等,正確選擇探頭串音隔層板與被測材料軸線之間的夾角至關(guān)重要。簡單地說,將探頭與被測材料耦合,探頭串音隔層板與被測材料軸線平行或垂直,沿與被測材料軸線方向垂直地緩慢搖動探頭,屏幕上的讀數(shù)將有規(guī)則地變化,選擇讀數(shù)中的最小值,作為材料的測量厚度。

根據(jù)材料的曲率正確選擇探頭串音隔層板與被測材料軸線夾角方向。直徑較大的管材,選擇探頭串音隔層板與管子軸線垂直;直徑較小的管材,則選擇與管子軸線平行和垂直兩種測量方法,取讀數(shù)中的最小值作為測量厚度。

A.1.5 復(fù)合外形:

當(dāng)測量復(fù)合外形的材料(如管子彎頭處)時可采用上文介紹的方法,所不同的是要進行二次測量,分別讀取探頭串音隔層板與軸線垂直和平行的兩個數(shù)值,其較小的一個數(shù)作為該材料在測量點處的厚度。

A.1.6 不平行表面:

為了得到穩(wěn)定、可靠的厚度測量值,被測材料的另一表面必須與被測面平行或同軸,否則將引起較大測量誤差或根本無讀數(shù)顯示。

A.2 溫度對測量結(jié)果的影響:

材料的厚度與超聲波在材料中的傳播速度均受溫度的影響。對測量精度要求較高時,可采用試塊對比法,即用相同材料、近似厚度的試塊在相同溫度條件下進行測量,并求得溫度補償系數(shù),用此系數(shù)修正被測工件的測量值。

A.3 材料衰減對測量結(jié)果的影響:

對于一些如纖維、多孔、粗晶等材料,它們會造成超聲波的大量散射和能量衰減,以致可能使儀器出現(xiàn)反常的讀數(shù)甚至無讀數(shù)(通常反常的讀數(shù)小于實際厚度)。在這種情況下,該材料不適于用此測厚儀進行厚度測量。

A.4 參考試塊的使用:

對不同材料在不同條件下進行精確測量,校準(zhǔn)試塊的材料越接近于被測材料,測量就越精確。理想的參考試塊將是一組被測材料的不同厚度的試塊,試塊能提供儀器補償校正因素(如材料的微觀結(jié)構(gòu)、熱處理條件、粒子方向、表面粗糙等)。為了滿足精度測量的要求,一套參考試塊將是很重要的。

在大部分情況下,只要使用一個參考試塊就能得到令人滿意的測量精度,這個試塊應(yīng)具有與被測材料相同的材質(zhì)和相近的厚度。取均勻被測材料用千分尺測量后就能作為一個試塊。

對于薄材料,在它的厚度接近于探頭測量下,可用試塊來確定準(zhǔn)確的低限。不要測量低于下限厚度的材料。如果一個厚度范圍是可以估計的,那么試塊的厚度應(yīng)選上限值。

當(dāng)被測材料較厚時,特別是內(nèi)部結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜的合金等,應(yīng)在一組試塊中選擇一個接近被測材料的,以便于掌握校準(zhǔn)。

大部分鍛件和鑄件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)具有方向性,在不同的方向上,聲速將會有少量變化,為了解決這個問題,試塊應(yīng)具有與被測材料相同方向的內(nèi)部結(jié)構(gòu),聲波在試塊中的傳播方向也要與在被測材料中的方向相同。

在一定情況下,查已知材料的聲速表,可代替參考試塊,但這只是近似地代替一些參考試塊,在一些情況下,聲速表中的數(shù)值與實際測量有別,這是因為材料的物理及化學(xué)情況有異。這種方法常被用來測低碳鋼,但只能作為粗略測量。


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