R3767CH_R3767BH_R3767CG_R3767列 經(jīng)典8G矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 網(wǎng)絡(luò)分析儀
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R3765CG/3767CG:S11,S21,S12,S22
R3765CG/3767CG+OPT.11:S11,S22,S33,S21,S12,S31,S13,S23,S32
R3765BG/3767BG:傳輸,反射
R3765AG/3767AG:A/R,B/R 根據(jù)參數(shù)算出阻抗(Z),導(dǎo)納(Y)計算
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實物圖片:
特點
·40MHz~8GHz
·測量速度:0.15ms/測點
·1Hz步進
·動態(tài)范圍:100dB
·內(nèi)置程控器
·3個測試端口
R3767列網(wǎng)絡(luò)分析儀
R3767列8GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠快速和地測量幅度、相位、群延遲和阻抗。測量的頻率范圍為40MHz~8GHz。由于它具有新高速信號處理結(jié)構(gòu),R3767列網(wǎng)絡(luò)分析儀可以進行10kHz RBW(IF帶寬)的0.25ms/點的快速測量。R3765列可應(yīng)用于生產(chǎn)線或工程中。列包括三種型號:A型(基本型),B型(內(nèi)置電橋)和C型(內(nèi)置S參數(shù)測試裝置)。
R3767列采用獨立的分析儀功能和容易讀數(shù)的7.8英寸大TFT彩色LCD顯示,以很容易進行數(shù)據(jù)比較和模式分析。內(nèi)置的BASIC控制器功能、并行I/O功能和條碼輸入功能,使它很容易完成測量、分析和評估以及建立一個高速ATE(自動測試裝置)統(tǒng)。因此,R3767列在使用標(biāo)準(zhǔn)FDD格式(720K,1.2M和1.44M字節(jié))和內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)SCPI指令的情況下,非常適合作為統(tǒng)組成部分。
用于特定場合的三種類型:
....A型:基本型
....B型:內(nèi)置電橋型
....C型:內(nèi)置S參數(shù)測試裝置
高速掃描
....0.15毫秒/點(帶有標(biāo)稱校準(zhǔn))
高速測量:0.15毫秒/點
具有4通道和8跡線的多功能顯示
100dB寬動態(tài)范圍
對于掃描中不同RBW和輸出電平的標(biāo)準(zhǔn)程序掃描功能
針對不同應(yīng)用的可選擇佳統(tǒng)
根據(jù)你應(yīng)用需要可以從R3767列中選擇出佳型號。
A型提供了內(nèi)置信號隔離器和兩個輸入終端,可同時進行兩個器件的測量。將A型連接到選件雙工器測試裝置上,它可以用在提電話前部,用三個端口(AND、RX和TX端口)進行雙工器測量。當(dāng)作為選件功放測試裝置的組成部分時,主可以修正并可同選件VIGs連用,這樣提電話的功放就可以測量了。在這種情況下,A型可以滿足多種應(yīng)用場合。
B型裝有功分器和SWR電橋,能夠同時測量傳輸和反射。當(dāng)使用B型時,通過校準(zhǔn)1口就可實現(xiàn)高精度測量。
C型裝有S參數(shù)測試裝置,這種裝置提供了功分器和兩個SWR電橋以及一個用于正向/反向轉(zhuǎn)換的半導(dǎo)體轉(zhuǎn)換開關(guān)。在自動反向模式中,C型可以高精度測量正向特性(S11和S21)和反向特性(S22和S12)。
作為統(tǒng)的組成成分
32字×8行的熒光屏顯示
獨立應(yīng)用
7.8英寸TFT彩色LCD
0.15ms/點的高速掃描
在電介質(zhì)濾波器、SAW濾波器、隔離器、環(huán)行器、功率放大器、天線和其它電子元件的生產(chǎn)線的測量統(tǒng)中,產(chǎn)量是一個至關(guān)重要的參數(shù)。R3767列能夠?qū)崿F(xiàn)0.15ms/點(10kHz RBW和歸一化校準(zhǔn))或0.25ms/點 (10kHz RBW和2端口校準(zhǔn))的掃描速度。
具有4通道和8跡線的多功能顯示
由于具有4通道和8跡線顯示功能,R3767C列能夠在直角坐標(biāo)和極性坐標(biāo)中用Smith圓圖對2端口器件的四個S參數(shù)(S11,S21,S22和S12)同時進行顯示,這樣就便于對測量數(shù)據(jù)進行快速分析。而且,具有TFT彩色LCD的R3767列網(wǎng)絡(luò)分析儀通過使用重疊數(shù)據(jù)顯示和限制線功能可以對數(shù)據(jù)進行識別。
100dB寬動態(tài)范圍
作為信息和通訊設(shè)備用于窄帶和高頻測量時,它內(nèi)部裝有用于測量電介質(zhì)和SAW濾波器的更高、更真實性能指標(biāo)的指令。R3767列的100dB寬動態(tài)范圍(10Hz RBW)非常適合于測試這類電子元件,例如測量通常的波紋和阻帶的失真信號。
針對不同RBW和輸出電平的標(biāo)準(zhǔn)程序掃描功能
程控掃描功能可以設(shè)置掃描頻率以及改變分辨率帶寬和輸出電平。在測量濾波器特性時,通過改變分辨率帶寬和輸出電平可以實現(xiàn)通帶和阻帶中的更快速和更的特性測量。
技術(shù)指標(biāo)
測量功能
...顯示通道:2通道(4跡線):A型和B型
............4通道(8跡線):C型
格式
...直角坐標(biāo):對數(shù)/線性幅度,相位,群延遲或復(fù)雜參數(shù)的實部和虛部
............[Z],R,X:(在阻抗轉(zhuǎn)換測量中)
............[Y],G,B:(在導(dǎo)納轉(zhuǎn)換測量中)
...相位顯示擴展功能
...Smith圖表:對數(shù)/線性幅度,相位,實部和虛部,R+jX,G+jB
...極性坐標(biāo): 對數(shù)/線性幅度,相位,實部和虛部
信號源特性
...測量頻率:
......范圍:40M(300K)Hz~8GHz
......分辨率:1Hz
......精度:±20ppm(25℃±5℃)
...輸出電平:
......范圍:+17dBm~-8 dBm(A型)
.........+7 dBm ~-18 dBm(B型)
.........+10 dBm ~-15 dBm(C型)
....分辨率:0.01dB
....精度:±0.5dB(50MHz,0dBm,25℃±5℃)
....線性度:25℃±5℃
A型 B型 C型
±0.4dB +12 dBm ~-3 dBm +2 dBm ~-13 dBm +5 dBm ~-10 dBm
±0.7dB +17 dBm ~-8 dBm +7 dBm ~-18 dBm +10 dBm ~-15 dBm
平坦度: 2.0dBp-p(25℃±5℃)
輸出阻抗:50歐姆
信號純度:
諧波失真:≥-20dBc(在大輸出時)
非諧波失真:≥25dBc(在大輸出時)
相位噪聲:在10kHz偏差和1Hz帶寬處,-85dBc+20log(f/40MHz)
掃描功能
掃描參數(shù):頻率和信號電平
大掃描范圍:
頻率范圍:40MHz~3.8GHz
信號電平:+17dBm~-8 dBm(A型)
+7 dBm ~-18 dBm(B型)
+10 dBm ~-15 dBm(C型)
范圍設(shè)置:STAR/STOP或CENTER/SPAN
掃描類型:線性/對數(shù)頻率掃描,部分和目標(biāo)值頻率掃描,電平掃描,CW(信號頻率)掃描
掃描時間:0.15ms/點(歸一化)
0.25ms/點(2端口同時校準(zhǔn))
小的掃描時間取決于測量格式,誤差修正模式,每點的掃描寬度,測量點的數(shù)量和IF帶寬。
測量點:3,6,11,21,51,101,201,301,401,601,801,1201
掃描觸發(fā):可由"連續(xù),保持,單一掃描"或"外部觸發(fā)"中設(shè)置
掃描模式:
雙通道掃描:兩個通道以同樣的頻率范圍進行掃描
不同掃描:兩個通道以不同的掃描類型和不同的頻率范圍進行掃描
接收特性
分辨率帶寬:10kHz~10Hz
幅度特性
幅度分辨率:0.001dB
動態(tài)分辨率:參考低于測試口大輸入電平20dB處
0~-10dB ±0.3dB
-10~-20dB ±0.05dB
-20~-50dB ±0.05dB
-50~-60dB ±0.1dB
-60~-70dB ±0.15dB
-70~-80dB ±0.40dB
-80~-90dB ±1.00dB
測量精度:±0.5dB(-10dBm,25℃±5℃)
相位特性
測量范圍:±180°(相位過± 180°時可以借助于相位顯示擴展功能進行顯示)
相位分辨率:0.01
頻率特性:±5°(25℃±5℃)
動態(tài)精度:參考低于測試口大輸入電平20dB處
0~-10dB ±5.0°
-10~-20dB ±0.3°
-20~-50dB ±0.3°
-50~-60dB ±0.4°
-60~-70dB ±1.5°
-70~-80dB ±4.0°
-80~-90dB ±8.0°
群延遲時間特性
范圍:按下列公式計算:
γ=ΔΦ/(360×Δf)
ΔΦ:相位
Δf:孔徑頻率
測量范圍:1ps~250s
群延遲時間分辨率:1ps
孔徑頻率:等于^f??梢訟%的分辨率在頻率帶寬的A%~范圍內(nèi)設(shè)置。
A=100/(測量點-1)
精度:相位精度/[360×孔徑頻率(Hz)]
測試端口特性
測試端口回波損耗:25℃±5℃
18dB(40MHz~2.6GHz)
16dB(2.6GHz~3.8GHz)
方向性:25℃±5℃
30dB(40MHz~2.6GHz)
26dB(2.6GHz~3.8GHz)
串音
A/B型 C型
90dB 90dB(40MHz~2.6GHz)
85dB(2.6GHz~3.8GHz)
連接器:N型(f),50歐姆
噪聲電平:測試端口的大輸入電平
-90dBc(3kHz BW)
-100dBc(10kHz BW)
大輸入電平:0dBm(A/B型)
+15dBm(C型)
輸入破壞電平:+20dBm
誤差修正功能
歸一化:在傳輸和反射測量中,頻率響應(yīng)(包括幅度和相位)被修正。
1端口校準(zhǔn):在反射測量中,電橋方向性、頻率響應(yīng)和源匹配引起的誤差被修正。(在誤差修正中需要短路器、開路器和負載)
2端口校準(zhǔn):在傳輸和反射測量中,方向性、頻率響應(yīng)和源匹配引起的誤差、負載匹配、和隔離度被修正。
數(shù)據(jù)平均:對每次掃描的數(shù)據(jù)(矢量)進行平均。平均次數(shù)可在2~999范圍內(nèi)選擇。
數(shù)據(jù)平滑功能:在鄰近的測量點間取平均。
電子長度修正:測量相位和群延遲時間加上相同電子長度或延遲時間。
相位偏差修正:連續(xù)見相位偏差加到測量的相位上
顯示單元:7.8英寸TFT彩色LCD
分辨率:640×480
顯示模式:直角LOG/線性坐標(biāo),極性坐標(biāo),史密斯圖表(阻抗/導(dǎo)納顯示)
測量條件顯示:起始/終止頻率,中心頻率/帶寬,標(biāo)尺/格,參考電平,光標(biāo)值,軟按件功能,告警語句
參考線位置::垂直坐標(biāo)的上部
0%:內(nèi)存的底部
自動標(biāo)尺:參考值和標(biāo)尺被設(shè)置好,這樣測量跡線可以在佳的位置上進行顯示
亮度:黑屏可以打開或關(guān)閉
其它功能
光標(biāo)功能:
光標(biāo)顯示:光標(biāo)讀數(shù)可以轉(zhuǎn)換成與每次測量格式相關(guān)的顯示值。
多光標(biāo):每個通道可設(shè)置高達10個光標(biāo)。
Delta光標(biāo):10個光標(biāo)中任一個都可設(shè)定為參考光標(biāo),這樣就可測量兩個光標(biāo)間的Delta值。
光標(biāo)偶合:每個通道光標(biāo)都可以組合或獨立的形式進行設(shè)置。
MKR搜索:MAX(大值)搜索,MIN(小值)搜索,NEXT(下一個)搜索
光標(biāo)跟蹤:每次掃描都能進行光標(biāo)跟蹤。
目標(biāo)值搜索:用-X dB,中心頻率和Q值計算點的帶寬和用相位0,±X頻率寬度搜索頻率點。
MKR→:MKR→參考值,MKR→START(起始頻率),MKR→STOP(終止頻率),MKR→CENTER(中心頻率)
程控功能
BASIC控制器功能:
標(biāo)準(zhǔn)的控制器功能可以對儀器或通過GPIB接口多其他測量儀器進行控制。
內(nèi)置功能:借助內(nèi)置功能可以進行高速數(shù)據(jù)分析。
FDD功能:符合MS-DOS格式,兼容3種模式(DD 720KB,HD 1.2MB/1.4MB)
統(tǒng)功能
外部監(jiān)視器輸出:可接到VGA
GPIB:支持IEEE488.2通用指令和SCPI指令
24位輸入和輸出:TTL電平,8位輸出(2端口),4位輸入/輸出(2端口)
RS232:串行輸入/輸出接口,符合RS-232C接口標(biāo)準(zhǔn)。
外部參考頻率輸入:1,2,5,10MHz,0dBm
一般指標(biāo)
工作環(huán)境:
在使用FDD時:
工作溫度:+5~+40℃
工作濕度:≤80%(非凝結(jié))
在沒使用FDD時:
工作溫度:+0~+50℃
工作濕度:≤80%(非凝結(jié))
存儲環(huán)境:-20~+60℃
電源:100~240VAC,48~60Hz
尺寸:近似為424(長)×220(高)×400(寬)mm