X熒光射線鍍層測厚儀性能比:能夠有效并精確的測量合金屬成分,只需短短數(shù)秒鐘,所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量:單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
X熒光射線鍍層測厚儀的應用范圍 :1、分析電子部品電鍍層的厚度
2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
3、各鍍層的成分比例分析。
●單一鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
●二元合金層:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
●三元合金層:例如Ni上的AuCdCu合金。
●雙鍍層:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
●雙鍍層,其中一個鍍層為合金層:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
●zui多24種鍍層(使用FlexFp -Multi軟件)。
●分析多達4種(或24種-FlexFp -Multi)元素。
設計特點:
☆ 單、雙及三層鍍層系統(tǒng)
☆ 雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量
☆ 雙層鍍層,其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析(兩層的厚度和合金成分都能被測量)
☆ 能分析多達四種金屬成分的合金;電鍍液中金屬離子含量
☆ 可編程的應用項圖標,用于快速應用項選擇
☆ 完整的統(tǒng)計功能,SPC圖,標準的概率圖和矩形圖評估
☆ 報告生成,數(shù)據(jù)輸出
☆ 語言選擇:英語,中文
☆菜單中的某些選擇項可*使用
注:基礎FlexFp -Multi軟件版本不允許創(chuàng)建新的應用,所要求的應用不得不在定貨時明確。當校準標準塊與儀器一起定購時,可在交貨前預先創(chuàng)建應用。若沒有定購校準標準塊,則只可使用已預裝的*無需標準塊的測量應用。
☆ 可隨意創(chuàng)建測量應用
☆ 可把每種測量模式的測量范圍設定為想要的理論上的測量精度
☆ 快速的頻譜分析以決定合金成分