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Zeta20 多模式三維光學(xué)輪廓儀

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公司名稱上海納騰儀器有限公司
品牌
型號(hào)Zeta-20
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2022/10/28 18:07:15
訪問(wèn)次數(shù)273

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上海納騰儀器有限公司是一家專注于為微納米科學(xué)領(lǐng)域提供綜合性解決方案，為

全國(guó)各大高校、科研院所及企事業(yè)單位提供*的微納米科學(xué)儀器。

目前上海納騰已成為國(guó)內(nèi)少數(shù)幾家專業(yè)提供微納米科學(xué)儀器的企業(yè)，在微納加工儀器，微納表征儀器，微納儀器耗材，微納加工測(cè)試等相關(guān)領(lǐng)域，擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富、技術(shù)過(guò)硬的團(tuán)隊(duì)。能夠出色地完成售中、售后的服務(wù)。

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Zeta20 多模式三維光學(xué)輪廓儀

Zeta20 多模式三維光學(xué)輪廓儀產(chǎn)品信息

Zeta-20 臺(tái)式光學(xué)輪廓儀是非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用ZDot™ 技術(shù)和 Multi-Mode (多模式)光學(xué)系統(tǒng)，可以對(duì)各種不同的樣品進(jìn)行測(cè)量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理，以及納米至毫米級(jí)別的臺(tái)階高度。

Zeta-20 的配置靈活并易于使用，并集合了六種不同的光學(xué)量測(cè)技術(shù)。ZDot™ 測(cè)量模式可同時(shí)采集高分辨率 3D 數(shù)據(jù)和 True Color（真彩）無(wú)限遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。其他 3D 測(cè)量技術(shù)包括白光干涉測(cè)量、Nomarski 干涉對(duì)比顯微鏡和剪切干涉測(cè)量。ZDot 或集成寬帶反射儀都可以對(duì)薄膜厚度進(jìn)行測(cè)量。Zeta-20 也是一種顯微鏡，可用于樣品復(fù)檢或自動(dòng)缺陷檢測(cè)。 Zeta-20 通過(guò)提供全面的臺(tái)階高度、粗糙度和薄膜厚度的測(cè)量以及缺陷檢測(cè)功能，適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。