SGW X-4 顯微熔點(diǎn)儀
SGW® X-4 顯微熔點(diǎn)儀
功能和特點(diǎn):
> 儀器采用顯微鏡觀察方法,具有二種測(cè)試模式,既可用(毛細(xì)管法)測(cè)定,又可用(載玻片-蓋玻片法)測(cè)量,測(cè)試樣品面廣;
> 工作臺(tái)選用(熱臺(tái)法)測(cè)定,保證了測(cè)量精度穩(wěn)定性、重復(fù)性;
> 特制的防風(fēng)罩,減少了環(huán)境對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響;
> 顯微熔點(diǎn)儀是作為教學(xué)儀器的選擇。
技術(shù)參數(shù):
儀器型號(hào) | SGW® X-4 |
測(cè)量范圍 | 室溫~320 ℃ |
測(cè)量方法 | 目視 |
測(cè)量模式 | 毛細(xì)管法、熱臺(tái)法 |
最小示值 | 1℃ |
重復(fù)性 | ≤200℃ ±1℃ |
>200℃ ±2℃ | |
觀察方式 | 單目顯微鏡 |
放大鏡倍數(shù) | 40× |
電源 | 220V±22V,50Hz±1Hz |
儀器尺寸 | 30mm×22mm×44mm |
儀器凈重 | 4.5kg |