SGW X-4B 顯微熔點(diǎn)儀
SGW® X-4B 顯微熔點(diǎn)儀
功能和特點(diǎn):
測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、燃料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定。
> 儀器采用顯微鏡觀察方法,既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定;
> 帶有防風(fēng)罩,減少了環(huán)境對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
技術(shù)參數(shù):
儀器型號(hào) | SGW® X-4B |
測(cè)量范圍 | 室溫~320 ℃ |
測(cè)量方法 | 目視 |
測(cè)量模式 | 毛細(xì)管法、熱臺(tái)法 |
最小示值 | 0.1℃ |
重復(fù)性 | ≤200℃ ±1℃ |
>200℃ ±2℃ | |
觀察方式 | 雙目體視顯微鏡 |
放大鏡倍數(shù) | 40×-100×變倍 |
電源 | 220V±22V,50Hz±1Hz |
儀器尺寸 | 30mm×22mm×44mm |
儀器凈重 | 4.5kg |