Quasor II EBSD 系統特點：
實現 EBSD
- 采集速率高達每秒600幀，索引像素 > 99%
- 信噪比是其他 CMOS 相機的三倍
- 與 Pathfinder X 射線微量分析集成，用于同時進行 EDS/WDS 和 EBSD 數據采集
- 一次測量即可提供樣品的結構和化學信息
衍射圖處理和條帶檢測
- 通過扣除或分割去除背景
- 圖像裁剪
- 采用 FFT 或拋物面的平場處理
- 可選擇檢測多達30條條帶
- 按行長度或 Hough 背景進行圖像歸一化
- 對清晰、平衡或平滑圖像進行 Hough 過濾
- Hough 裁剪直徑調整以適應屏幕圖案質量
- Hough 變換顯示屏具有可編輯行選擇
- 可選擇索引多達30行
- 允許從索引方案中刪除高達 25% 的條帶
- 按條帶強度對索引自動排序
- 從預先建立的超過10,000種晶體的庫中選擇晶體
- 保存衍射圖的再處理
- 圖譜中心校準檢索
- 能夠保存衍射圖以備后續(xù)再分析
設計用于冶金學
- 開發(fā)基于 SEM 的質量控制和故障分析方法
- 加熱和冷卻后進行相鑒定和轉化分析
- 確定相和粒度
- 焊接后監(jiān)測熱影響區(qū)
- 對金屬進行預測性斷裂分析
- 驗證添加劑生產工藝
