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臺式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀

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公司名稱QUANTUM量子科學儀器貿(mào)易（北京）有限公司
品牌
型號XAFS/XES
所在地北京市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2023/11/27 11:55:14
訪問次數(shù)780

產(chǎn)品標簽:

XAFS easyXAFS X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜材料微觀結(jié)構(gòu)表征無需同步輻射

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公司介紹主營產(chǎn)品

QUANTUM量子科學儀器貿(mào)易(北京)有限公司（暨Quantum Design中國子公司）是的科學儀器制造商——美國Quantum Design公司在設(shè)立的諸多子公司之一。美國Quantum Design公司生產(chǎn)的SQUID磁學測量系統(tǒng) (MPMS) 與材料綜合物性測量系統(tǒng)(PPMS)已成為的測量平臺，廣泛分布于世界上幾乎所有半導體、超導、材料、納米等研究領(lǐng)域的實驗室。同時，美國Quantum Design 公司利用遍布世界的專業(yè)營銷與售后隊伍打造了一個代理分銷網(wǎng)絡(luò)，與世界其他的設(shè)備制造商合作，為其提供化專業(yè)產(chǎn)品銷售和售后服務(wù)網(wǎng)絡(luò)。2007年，美國Quantum Design公司并購了歐洲的儀器分銷商德國 LOT公司，使得Quantum Design公司代理分銷和售后網(wǎng)絡(luò)變得更加完整和強大，成為大的*儀器和*技術(shù)轉(zhuǎn)移的營銷商之一。

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快速退火爐

產(chǎn)品簡介在線詢價

美國easyXAFS公司推出的臺式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀（XAFS/XES），采用*的X射線單色器設(shè)計，無需同步輻射光源，在常規(guī)實驗室環(huán)境中實現(xiàn)X射線吸收精細結(jié)構(gòu)測量和分析，提供XAFS和XES兩種測量模式，并輕松相互切換。以*的靈敏度和光源質(zhì)量，廣泛應用在催化、電池等研究領(lǐng)域，實現(xiàn)對元素的測定、定量和價態(tài)分析等。

臺式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀產(chǎn)品信息

臺式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀-XAFS/XES

美國easyXAFS公司推出的臺式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀（XAFS/XES），采用*的X射線單色器設(shè)計，無需同步輻射光源，在常規(guī)實驗室環(huán)境中實現(xiàn)X射線吸收精細結(jié)構(gòu)測量和分析，提供XAFS和XES兩種測量模式，并輕松相互切換。以*的靈敏度和光源質(zhì)量，廣泛應用在催化、電池等研究領(lǐng)域，實現(xiàn)對元素的測定、定量和價態(tài)分析等。


XAFS300	XES100

easyXAFS 產(chǎn)品參數(shù)

X射線源:

XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w)

XES: 100w XRF 空冷管(Pd/W)
能量范圍: 5-12keV; 可達19keV
分辨率: 0.5-1.5eV
樣品塔: 7位自動樣品輪
布拉格角: 55-85 deg

檢測器: SDD

單晶尺寸:

球面單晶(Si/Ge)

直徑10cm，曲率半徑100cm
軟件: LabVIEW, 腳本掃描
擴展: 儀器可外接設(shè)備，控制樣品條件
分析儀校準: 預先校準，快速插拔更換

easyXAFS 產(chǎn)品優(yōu)勢

- 無需同步輻射光源

- 科研級別譜圖效果

- 臺式設(shè)計，實驗室內(nèi)使用

- 可外接儀器設(shè)備，控制樣品條件

- 可實現(xiàn)多個樣品或多種條件測試

- 操作便捷、維護成本低

easyXAFS 應用案例譜圖展示

1、XAFS300

2、XES100

■ XES Mode

■ XAFS Mode

easyXAFS 已發(fā)表文章

1. Mundy, Cossairt, et al.,Chem Mater 2018
2. Jahrman, Seidler, and Sieber, Anal.Chem., 2018
3. Holden, Seidler, et al.,J.Phys.Chem.A, 2018.
4. Holden, Seidler, et al.,J.Phys.Chem.A, 2018.
5. Stein, Holden, et al., Chem.Mater., 2018.
6. Padamati, Angelone, et al.,JACS, 2017
7. Mortensen, Seidler, et al., Phys Rev B, 2017.
8. Valenza, Jahrman, et al., Phys Rev A, 2017
9. Mortensen, Seidler, et al., XAFS16 conference proceedings.
10. Seidler, Mortensen, et al., XAFS16 conference proceedings.