頭掃描原子力顯微鏡
FM-Nanoview LSCL-AFM
產(chǎn)品概述
◆ 家實(shí)現(xiàn)樣品保持不動(dòng),探針移動(dòng)掃描的商業(yè)化原子力顯微鏡;
◆ 樣品尺寸、重量幾乎不受限制,特別適合超大的樣品檢測(cè);
◆ 樣品臺(tái)可拓展性強(qiáng),非常便于進(jìn)行多儀器聯(lián)用實(shí)現(xiàn)原位檢測(cè);
◆ 電動(dòng)控制樣品移動(dòng)臺(tái)和升降臺(tái),可任意編程多點(diǎn)位置實(shí)現(xiàn)快速自動(dòng)化檢測(cè);
◆ 龍門(mén)架式掃描頭設(shè)計(jì),大理石底座,真空吸附和磁性吸附式載物臺(tái);
◆ 馬達(dá)自動(dòng)控制加壓電陶瓷自動(dòng)探測(cè)的智能進(jìn)針?lè)绞剑Wo(hù)探針及樣品;
◆ 高倍輔助光學(xué)顯微定位,實(shí)時(shí)觀測(cè)與定位探針以及樣品掃描區(qū)域;
◆ 集成掃描器非線性校正用戶編輯器,納米表征和測(cè)量精度優(yōu)于98%。
技術(shù)參數(shù)
應(yīng)用案例