1、高分辨率-無論何時(shí),無論哪次
在樣品上每個(gè)原子實(shí)現(xiàn)力掃描
點(diǎn)缺陷的高分辨三維尺寸和機(jī)械性能成像
2、釋放帶寬實(shí)現(xiàn)更快成像
通過快速輕敲,不降低效果的同時(shí)增加掃描速度
采用雙向掃描選項(xiàng)即刻實(shí)現(xiàn)成像速度翻倍
采用布魯克專有的高速探針,結(jié)合已知規(guī)程(BKM)可將掃描速度提高10倍
3、完整的納米尺度定量信息
可信的納米級(jí)粘彈性表征
常規(guī)地獲得高質(zhì)量力學(xué)性能數(shù)據(jù)
4、獲取納米力學(xué)和納米化學(xué)數(shù)據(jù)的高級(jí)AFM研究
在之前不可能研究的樣品上研究電學(xué)性能
獲取整體力學(xué)數(shù)據(jù),從而全面表征接觸力學(xué)機(jī)制
5、潛力無限-靈活,開放
使研究人員通過PeakForce Tapping®技術(shù)獲得高分辨率圖像
先使用已有的測(cè)量模式;如果沒有,創(chuàng)造一個(gè)
在開放的平臺(tái)上直接進(jìn)行改造, 與其它技術(shù)聯(lián)用
6、超乎想象的簡(jiǎn)單
NanoScope®是被世界認(rèn)可的,被廣泛引用的原子力顯微鏡