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HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng)

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公司名稱成都中冷低溫科技有限公司
品牌其他品牌
型號
所在地成都市
廠商性質生產(chǎn)廠家
更新時間2024/11/11 10:21:06
訪問次數(shù)111

產(chǎn)品標簽:

高加速老化測試系統(tǒng)半導體芯片 HAST 高加速壽命老化

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公司介紹主營產(chǎn)品

成都中冷低溫科技有限公司總部位于中國成都，是一家專注于泛半導體溫度環(huán)境解決方案的創(chuàng)新型高科技公司，

專精特新企業(yè)、科技型企業(yè)、歐盟CE認證企業(yè)、ISO9001國際質量管理體系認證企業(yè)、知識產(chǎn)權貫標認證企業(yè)。

中冷低溫主要生產(chǎn)高低溫沖擊氣流儀（ThermoTST熱流儀）、接觸式冷熱沖擊機（ATC/TCU）、高低溫卡盤（ThermoChuck）、高低溫測試臺、高壓加速老化試驗機（PCT）、

非飽和高壓加速老化試驗機（HAST）、環(huán)境應力篩選系統(tǒng)、高低溫循環(huán)箱、高低溫沖擊箱、氣體制冷機、氣體溫控器、超低溫制冷機。

為晶圓、芯片、5G通訊、光模塊、集成電路、航空航天、天文探測、電池包、氫能源等領域的可靠性測試提供整套溫度環(huán)境解決方案和測試服務。

中冷低溫設備已出口歐盟、泰國、越南、新加坡、馬來西亞等。

在天津、上海、蘇州、深圳、武漢、重慶、西安設有辦事處。

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高低溫沖擊氣流儀，接觸式冷熱沖擊機，高低溫卡盤，高低溫測試臺，高壓加速老化試驗機，高低溫試驗箱，HAST，氣體制冷機

產(chǎn)品簡介在線詢價

產(chǎn)地	國產(chǎn)

HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng)，HAST高加速壽命試驗箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果。

HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

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HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng)

HAST高加速壽命試驗箱是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果。

HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng)

用于評估非氣密性封裝IC器件、金屬材料等在濕度環(huán)境下的可靠性。該試驗檢查芯片長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。本設備適用于量產(chǎn)芯片驗證測試階段的HAST測試需求，僅針對非密封封裝(塑料封裝)，帶偏置(bHAST)和不帶偏置(uHAST)的測試。

HAST半導體高加速老化測試系統(tǒng)

標準設計更安全，內(nèi)膽圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全容器規(guī)范

多重保護功能，兩道高溫保護裝置、濕度用水斷水保護、超壓保護

穩(wěn)定性更高:內(nèi)置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準確度

濕度自由選擇:飽和與非飽和自由設定

智能化高:USB數(shù)據(jù)、曲線導出保存

關鍵詞：芯片試驗箱