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QQ交談錫膏測(cè)厚儀
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- 濟(jì)南辰典電子有限公司
- 2022-08-03 13:42:16
- 濟(jì)南市
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【簡(jiǎn)單介紹】
本測(cè)厚儀采用脈沖反射超聲波測(cè)量原理，適用于超聲波能以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測(cè)量。此儀器可對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量。可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船等各個(gè)領(lǐng)域。
【詳細(xì)說(shuō)明】
點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀產(chǎn)品關(guān)鍵詞：金屬測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀、紙張測(cè)厚儀、渦流測(cè)厚儀、非接觸測(cè)厚儀、射線測(cè)厚儀、金屬薄片手持式測(cè)厚儀、實(shí)驗(yàn)室測(cè)厚儀、紙張厚度測(cè)試儀、塑料包裝材料測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀可大致分為：器測(cè)量出從安裝支架到物體表面的距離油漆測(cè)厚儀確保兩個(gè)傳感器的激光能對(duì)在同一點(diǎn)上
1.1 產(chǎn)品特點(diǎn)
1：高精度測(cè)量，顯示精度可達(dá)
2：智能語(yǔ)音播報(bào)，配合LED背光顯示，可在各種光線環(huán)境下使用。
3：支持藍(lán)牙數(shù)據(jù)傳輸，可進(jìn)行藍(lán)牙打印。
4：鋰電池供電，USB充電。
1.2 基本原理
超聲波測(cè)量厚度的原理與光波測(cè)量原理相似，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭通過(guò)精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。
1.3 適用范圍
本測(cè)厚儀采用脈沖反射超聲波測(cè)量原理，適用于超聲波能以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測(cè)量。此儀器可對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量?？蓮V泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船等各個(gè)領(lǐng)域。
1.4 主要技術(shù)參數(shù)：
| 指標(biāo) | 參數(shù) | |
| 技術(shù)指標(biāo) | 測(cè)量范圍 | 0.7~ |
| 顯示精度 | | |
| 測(cè)量誤差 | ± | |
| 測(cè)量誤差 | ±0.3% | |
| 測(cè)量周期 | 4次/秒 | |
| 工作頻率 | | |
| 聲速范圍 | 1000 ~ | |
| 校準(zhǔn)試塊 | | |
| 基本功能 | 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 1000組（厚度、時(shí)間、聲速） |
| 探頭校準(zhǔn) | 零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn) | |
| 聲速校準(zhǔn) | 支持 | |
| 測(cè)量模式 | 脈沖回波（P-E） | |
| 語(yǔ)音播報(bào) | 支持 | |
| 調(diào)節(jié)增益 | 2檔可調(diào) | |
| 報(bào)警功能 | 支持 | |
| 掃描模式 | 支持 | |
| 差值模式 | 支持 | |
| 耦合指示 | 支持 | |
| 電量指示 | 支持 | |
| 實(shí)時(shí)時(shí)鐘 | 支持 | |
| 欠壓指示 | 支持 | |
| 自動(dòng)關(guān)機(jī) | 支持 | |
| 探頭規(guī)格 | 標(biāo)配探頭 | |
| 可選探頭 | | |
| 使用環(huán)境 | 使用溫度 | -10 ~ |
| 存放溫度 | -30 ~ | |
| 顯示 | 顯示屏 | FSTN LCD 點(diǎn)陣顯示 |
| 背光 | LED 背光 | |
| 語(yǔ)言 | 中 / 英 | |
| 菜單操作 | 支持 | |
| 顯示信息 | 厚度測(cè)量值、聲速、時(shí)間、耦合狀態(tài)、差值指示、報(bào)警指示、掃描指示、電量指示、存儲(chǔ)指示、藍(lán)牙指示等 | |
| 通訊 | 電腦接口 | USB接口 |
| 藍(lán)牙 | 支持 | |
| 軟件配置 | PC通訊軟件 | 支持?jǐn)?shù)據(jù)查詢、數(shù)據(jù)備份等功能，可備份、修改配置信息 |
| 主機(jī)升級(jí)軟件 | 支持主機(jī)程序升級(jí) | |
| 打印 | 打印機(jī) | 藍(lán)牙打印 |
| 打印紙卷直徑 | | |
| 打印紙寬 | 57± | |
| 電池 | 電池規(guī)格 | 3.7V可充電鋰電池，1700mAh |
| 使用時(shí)間 | 100小時(shí)（關(guān)閉背光、藍(lán)牙） | |
| 充電電源 | 5V / | |
| 充電時(shí)間 | 4小時(shí) | |
| 外觀包裝 | 外形尺寸 | 160x78x |
| 外殼材質(zhì) | 工程塑料 | |
| 主機(jī)重量 | | |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 儀器主機(jī)、 | |
附表1 各種材料的聲速比
| 材料 | 聲速（m/s） |
| 鋁 | 6320 |
| 鋅 | 4170 |
| 銀 | 3600 |
| 金 | 3240 |
| 錫 | 3320 |
| 鋼 | 5920 |
| 黃銅 | 4430 |
| 銅 | 4700 |
| SUS | 5970 |
| 丙烯酸（類(lèi)）樹(shù)脂 | 2730 |
| 水（ | 1480 |
| 甘 | 1920 |
| 水玻璃 | 2350 |
X射線測(cè)厚儀X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性渦流測(cè)厚儀主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.錫膏測(cè)厚儀激光測(cè)厚儀鋼板測(cè)厚儀
1.設(shè)備簡(jiǎn)介
中文名稱(chēng)：測(cè)厚儀
英文名稱(chēng)：thickness Tester
產(chǎn)品關(guān)鍵詞：金屬測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀、紙張測(cè)厚儀、渦流測(cè)厚儀、非接觸測(cè)厚儀、射線測(cè)厚儀、金屬薄片手持式測(cè)厚儀、實(shí)驗(yàn)室測(cè)厚儀、紙張厚度測(cè)試儀、塑料包裝材料測(cè)厚儀
設(shè)備用途：測(cè)厚儀（thickness gauge ）是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。
測(cè)厚儀圖冊(cè)（4張）
2.涂層測(cè)厚儀的使用方法
使用涂層測(cè)厚儀時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定：
a基體金屬特性對(duì)于磁性方法，規(guī)范片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，規(guī)范片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b基體金屬厚度檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
c邊緣效應(yīng)不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
d曲率不應(yīng)在試件的彎曲外表上測(cè)量。
e讀數(shù)次數(shù)通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必需在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。
覆蓋層厚度的局部差別，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，外表粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f外表清潔度丈量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
3.注意事項(xiàng)
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng)：
⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
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