產(chǎn)品展示
半導(dǎo)體 BOWMAN X射線熒光膜厚儀
【簡單介紹】
【詳細(xì)說明】
. 是一款設(shè)計(jì)緊湊靈活、功能強(qiáng)大的膜厚儀,可以滿足各個行業(yè)中對質(zhì)量保證和過程控制的要求。
用*的X射線技術(shù),可高效率低成本,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡易但功能強(qiáng)大,可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測量小到ppm的范圍,即使是較大的測量樣品也可放在XY(Z)測量臺上,拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量。
測量技術(shù)同行15年,在同測量領(lǐng)域風(fēng)蚤,成為膜厚儀*,精準(zhǔn)的數(shù)據(jù),*的技術(shù),嚴(yán)格的品質(zhì)要求,可靠、可信、快速的服務(wù),及一些專業(yè)意見與技術(shù)扶持,值得您的信賴。
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