出售安捷倫4263B LCR數(shù)字電橋-湯S
安捷倫4263B LCR數(shù)字電橋
本儀器精度為0.1%
測試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測試信號電平監(jiān)視功能
高速測量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測試量程
變壓器參數(shù)測量(供選用)
安捷倫4263B LCR數(shù)字電橋是Agilent公司生產(chǎn)的zui價廉物美的低檔LCR測試儀，供生產(chǎn)線上的元件評估和實(shí)驗(yàn)室中的基本阻抗測試使用。4263B具有能在正確狀態(tài)下對測試進(jìn)行模擬的5個測試頻率，即100Hz，120Hz，1kHz和100kHz。在這5個頻率之外還可增添供選用的20kHz測試頻率（選件002）。
高速測量
安捷倫4263B LCR數(shù)字電橋依靠在任何測試頻率上都有25ms的測量速度來提高一產(chǎn)率，這種能力提高了電解電容順和變壓器測試的效率，4263B能檢查測試端子與被測件（DUT）之間的接觸狀況，這種功能保證在生產(chǎn)中用自動處理器進(jìn)行合格。不合格的測試的可靠性，有故障的被測件一旦從處理器中取去該儀器便能立即恢復(fù)正常工作，因此處理器始終能以zui高速度工作。
電解電容器測量
Ailent 4263B的精度和寬的測量范圍是對電解電容器進(jìn)行精密測量的很好保證。充電后的電容器可能經(jīng)常端放電，從而使儀器損壞。4263B的前端設(shè)計(jì)考慮了保護(hù)作用，能保持測試正常進(jìn)行。
變壓器參數(shù)測量
由于Ailent 4263B能進(jìn)行匝數(shù)比（N），互感（M）和直流電阻（DCR）測量，故數(shù)據(jù)計(jì)算和改變測試裝置不再是費(fèi)時的工作（選件001）靈活的信號電平高速和電壓、電流監(jiān)視功能使4263B特別適用于測量與電平有關(guān)的被測件，始磁芯電感器。
測量功能 |
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測量參數(shù) | |Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR | |
選件001 | 增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測量 | |
測量電路形式 | 串聯(lián)和并聯(lián) | |
數(shù)學(xué)功能 | 偏差和百分偏差 | |
測試電纜長度 | 0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz) | |
測試信號數(shù)據(jù) |
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測試頻率 | 100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz | |
選件002 | 增加20kHz測試頻率 | |
頻率精度 | ±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV) | |
輸出阻抗 | 100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程） | |
交流測試信號電平 | 20mV~1Vrms,以5mVrms分檔 | |
精度 | ±（10%+10mV) | |
內(nèi)部直流偏置 |
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電平 | 1.5和2V；精度：±（5%+2mV) | |
外部直流偏置 | 0~+2.5V | |
測量范圍 | 參數(shù) | 測量范圍 |
|Z|,R,X | 1mΩ-100MΩ | |
|Y|,G,B | 10nS-1000S | |
C | 1pF-1F | |
L | 10nH-100kH | |
D | 0.0001-9.9999 | |
Q | 0.1-9999.9 | |
θ | -180°~+180° | |
DCR | 1mΩ-100MΩ | |
N | 0.9-200（待定） | |
L,M | 1μH-100H（待定） | |
Δ% | -999.99%-+999.99% | |
測量精度： | ±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) | |
測量時間 |
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模式 | 時間（典型值） | |
短 | 25ms | |
中等 | 65ms | |
長 | 500ms | |
測試信號電平監(jiān)視器： | 電壓和電流 | |
前端保護(hù)： | 當(dāng)充電電容器連接到輸入端時內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。zui大電容器電壓為；在 | |
顯示數(shù)字： | 3，4或5位（可選擇） | |
修正功能： |
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開路/短路誤差為0： | 消除由測量夾具中雜散寄生阻抗引起的測量誤差 | |
負(fù)載： | 利用一個已校器件作為參考來改善測量的精度 | |
比較功能： | 對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果 | |
接觸檢查功能： | 可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時間為5ms | |
其它功能 |
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存儲/調(diào)用： | 可以存儲和從內(nèi)部非易失存儲器調(diào)用10個儀器設(shè)置 | |
連續(xù)存儲功能： | 若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動被存儲起來（在23°±5℃下≦72小時） | |
GPIB接口 | 所有控制設(shè)置，被測值和比較器信息 | |
處理器接口 | 所有輸出信號均為負(fù)邏輯，光隔離的開路集電極。輸出信號包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號，測量結(jié)束和報警。輸入信號包括鍵鎖定 | |
電源要求 | 90-132V或198-264V，47-66Hz，45VAmax |
工作溫度 | 0-45℃ |
尺寸 | 320mm(寬）*100mm(高）*300mm(長）（12.6英寸*3.94英寸*11.81英寸） |
重量： | 4.5kg(9.9磅） |
環(huán)保在線