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模擬運(yùn)輸顛簸振動(dòng)實(shí)驗(yàn)臺(tái)，模擬汽車運(yùn)輸途中的顛簸對(duì)產(chǎn)品造成的破壞，用以鑒定產(chǎn)品是否忍受環(huán)境振動(dòng)的能力。

三軸向電磁振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)，通過電磁振動(dòng)產(chǎn)生一定頻率和振幅的振動(dòng)，對(duì)試件進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)，以檢測試件在振動(dòng)環(huán)境下的性能和可靠性。

垂直電磁震動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，適用于發(fā)現(xiàn)早期故障，模擬實(shí)際工況考核和結(jié)構(gòu)強(qiáng)度試驗(yàn)，也可用于各種產(chǎn)品的科研和生產(chǎn)線上的耐振檢查試驗(yàn)。

小型汽車運(yùn)輸振動(dòng)臺(tái)，適用于玩具、電子、家具、禮品、陶瓷、包裝等產(chǎn)品進(jìn)行模擬運(yùn)輸測試。

產(chǎn)品包裝運(yùn)輸振動(dòng)測試機(jī)，模擬汽車在運(yùn)輸過程中所受到的振動(dòng)環(huán)境，測試汽車及其零部件、設(shè)備、產(chǎn)品的耐久性和可靠性。

模擬運(yùn)輸振動(dòng)碰撞試驗(yàn)機(jī)，模擬汽車在運(yùn)輸過程中所受到的振動(dòng)環(huán)境，測試汽車及其零部件、設(shè)備、產(chǎn)品的耐久性和可靠性。

模擬汽車抖動(dòng)測試機(jī)，適用于玩具、電子、家具、禮品、陶瓷、包裝等產(chǎn)品進(jìn)行模擬運(yùn)輸測試。

雙向電磁振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，適用于電子元器件、電池部件、電纜組件、機(jī)電產(chǎn)品、汽車零部件、儀器儀表、電子玩具、醫(yī)藥及食品包裝等行業(yè)實(shí)驗(yàn)室及生產(chǎn)線上對(duì)樣品進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。

調(diào)頻振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于模擬電工、電子、汽車零部件以及其它涉及到運(yùn)輸?shù)漠a(chǎn)品和貨物在運(yùn)輸過程中的環(huán)境，檢測其產(chǎn)品的耐振性能。

模擬運(yùn)輸震動(dòng)實(shí)驗(yàn)臺(tái)，適用于玩具、電子、家具、禮品、陶瓷、包裝等產(chǎn)品進(jìn)行模擬運(yùn)輸測試。

振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，在試驗(yàn)室內(nèi)模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸、儲(chǔ)存、使用過程中所可能經(jīng)受到的正弦振動(dòng)。提供產(chǎn)品在制造、運(yùn)輸及使用過程中的振動(dòng)環(huán)境。

多頻率電磁震動(dòng)臺(tái)，用于測試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

三軸XYZ振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

三軸電磁震動(dòng)測試儀，用于測試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

垂直水平振動(dòng)測試臺(tái)，用于測試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

緊固件橫向振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

電動(dòng)式振動(dòng)臺(tái)，用于測試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

電動(dòng)式振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

橫向振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，用于測試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。

電磁高頻振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)，用于測試材料、產(chǎn)品和部件在振動(dòng)環(huán)境下的性能，以及電子元器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性。