深圳華普通用科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 應(yīng)用于X射線熒光光譜儀配用的壓片機(jī)作為壓樣模具。
產(chǎn)品型號(hào)：PVC環(huán)所在地：更新時(shí)間：2024-02-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 此設(shè)備可測(cè)量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。粒徑測(cè)量范圍（0 6nm～10μm），濃度范圍（0 00001%～40%）。實(shí)測(cè)電氣滲透流
產(chǎn)品型號(hào)：ELSZ-2000所在地：更新時(shí)間：2023-09-17 在線留言
詳細(xì)摘要： 瞬間測(cè)量量子效率（量子收率）。適用于粉體、溶液、固體（膜）、薄膜樣品的測(cè)量。通過低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的迷光。
產(chǎn)品型號(hào)：QE-2000/2100所在地：更新時(shí)間：2023-09-15 在線留言
詳細(xì)摘要： 全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計(jì)量測(cè)量離散點(diǎn)的元素污染或使用完整的晶圓圖
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-08-05 在線留言
詳細(xì)摘要： Rigaku 的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長(zhǎng)色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計(jì)。
產(chǎn)品型號(hào)：ZSX Primus 400所在地：更新時(shí)間：2023-08-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測(cè)量超痕量元素表面污染的測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：TXRF-V310所在地：更新時(shí)間：2023-08-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 理學(xué)臺(tái)式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認(rèn)為的X射線衍射儀方式。
產(chǎn)品型號(hào)：MiniFlex 600所在地：更新時(shí)間：2023-08-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評(píng)估的X射線熒光分析儀同時(shí)對(duì)各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無損、非接觸式分析
產(chǎn)品型號(hào)：WDA-3650所在地：更新時(shí)間：2023-08-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本理學(xué)SmartLab帶制導(dǎo)軟件的自動(dòng)多用途X射線衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計(jì)量、SAXS、面內(nèi)散射、操作測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：SmartLab所在地：更新時(shí)間：2023-08-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本理學(xué)同步熱分析儀DSC8231測(cè)量體重變化和吸熱或放熱反應(yīng)
產(chǎn)品型號(hào)：DSC8231所在地：更新時(shí)間：2023-08-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 差示掃描量熱儀DSC8231差示掃描量熱法（DSC）量化熔化、轉(zhuǎn)變、結(jié)晶和玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等反應(yīng)中的能量變化，主要用于研發(fā);以及聚合物、制藥領(lǐng)域的質(zhì)量控制。
產(chǎn)品型號(hào)：DSC8231所在地：更新時(shí)間：2023-08-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350結(jié)合了高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。
產(chǎn)品型號(hào)：Crossbeam 350所在地：更新時(shí)間：2023-08-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550結(jié)合了高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。
產(chǎn)品型號(hào)：Crossbeam系列所在地：更新時(shí)間：2023-08-05 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國(guó)蔡司 MultiSEM 研究合作計(jì)劃速度非凡的掃描電子顯微鏡
產(chǎn)品型號(hào)：MultiSEM系列所在地：更新時(shí)間：2023-05-07 在線留言
詳細(xì)摘要： 雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續(xù)非接觸式溫度監(jiān)測(cè)的新一代的性能和創(chuàng)新，并廣泛應(yīng)用于OEM應(yīng)用和制造工藝中。
產(chǎn)品型號(hào)：MI3所在地：更新時(shí)間：2023-05-07 在線留言
詳細(xì)摘要： Pure色譜儀非常的緊湊，確保的安全性并且易于應(yīng)用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。
產(chǎn)品型號(hào)：Pure系列所在地：更新時(shí)間：2023-05-07 在線留言
詳細(xì)摘要： Chroma 3650可在一個(gè)測(cè)試頭中，提供最多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測(cè)試功能， 可同時(shí)測(cè)試32 個(gè)待測(cè)晶片，以提升量產(chǎn)效能。
產(chǎn)品型號(hào)：Model3650所在地：更新時(shí)間：2023-05-07 在線留言
詳細(xì)摘要： 全天候監(jiān)控您的工藝、產(chǎn)品和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)
產(chǎn)品型號(hào)：TV40所在地：更新時(shí)間：2023-05-07 在線留言
詳細(xì)摘要： 雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用，并可以測(cè)得運(yùn)動(dòng)物體的準(zhǔn)確溫度圖像。
產(chǎn)品型號(hào)：MP150所在地：更新時(shí)間：2023-05-07 在線留言
詳細(xì)摘要： Raytek® Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測(cè)溫儀設(shè)計(jì)用于滿足眾多工業(yè)應(yīng)用中的過程性能要求，包括原生和再生金屬加工以及石化和發(fā)電廠運(yùn)行...
產(chǎn)品型號(hào)：3i Plu所在地：更新時(shí)間：2023-05-07 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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