XP1型偏光顯微鏡
二手閑置，配件齊全，數(shù)量有限，售完即止。
用途：
XP1型透射偏光顯微鏡，主要用于巖石的薄片檢定。利用偏振光研究均勻介質(zhì)的強弱和各種差異，以鑒定地質(zhì)礦物含量。本儀器廣泛用于地質(zhì)研究部門和有關(guān)院校和實驗室，也用于紡織業(yè)，對纖維進行檢驗。
結(jié)構(gòu)：
1、物鏡轉(zhuǎn)換器采用外定位可調(diào)式。
2、目鏡采用大視場平鏡目鏡，成像清晰。
3、照明系統(tǒng)采用非球面，增加了亮度。
4、轉(zhuǎn)臺采用滾動式，舒適，輕巧。
5、檢偏鏡可轉(zhuǎn)180度，配以可調(diào)補償器，可定量檢定。
6、調(diào)焦系統(tǒng)采用粗微調(diào)合同付滑板，滑板采用雙圓弧滾動導(dǎo)軌，受力后穩(wěn)定可靠。
7、組合式結(jié)構(gòu)，可以方便地增加附件，使它有可能變?yōu)槎喙δ艿娘@微鏡；配以適當(dāng)附件，可進行明視場觀察、暗視場觀察、熒光觀察、相襯觀察、顯微攝影。
注：產(chǎn)品照片為實物拍攝，供參考；本公司保留對產(chǎn)品進行改進提高的權(quán)利，屆時恕不另行通知客戶；本產(chǎn)品配置以及實際運費以裝箱清單及貨運距離為準(zhǔn)。包裝箱為定制實木結(jié)構(gòu)，故在安全性上有保障，但相應(yīng)重量及運費要高些，請各位理解。
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