鍍層檢測儀ux210
【簡單介紹】
【詳細說明】
儀器簡介:
ux210型x熒光光譜儀,主要用于rohs指令限定的6種有害物質(zhì),鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價鉻Cr、溴Br的準確檢測,是各電子電器生產(chǎn)商應對rohs指令*檢測工具;此外ux210型x熒光光譜儀還可以測試K-U之間的其它元素以及鍍層厚度的檢測。
技術參數(shù):
儀器尺寸:640(w)×474(d)×412(h)mm
樣品腔尺寸:小樣品腔-300(w)×300(d)×100(h)mm
大樣品腔-無限制,小于30公斤
重量:48kg
工作環(huán)境:15-30攝氏度;相對濕度≤85%
可分析的元素范圍:元素周期表從19號鉀K至92號鈾U
zui低檢測下限:≤2ppm
測試時間:200-300s
探測器*分辨率:149±5ev
電源:AC220V±10%,50Hz 800W
標準配置:
探測器:Amptek 100CR
MCA多道脈沖處理器:自主研發(fā)制造
高壓電源:Spellman MNX50P50
x光管:丹東X光管Mo靶
分析軟件:ux210主用版V6.0
選配件:
多元素分析軟件
鍍層厚度分析軟件
六價鉻測試儀
光路優(yōu)化系統(tǒng)(可測試鹵素氯、zui低檢出限≤300PPM)
特點:
成熟的經(jīng)典分析方法
憑借國家“七·五”“九·五”科技攻關計劃之科技成果,集成近二十五年分析測試應用經(jīng)驗的經(jīng)典數(shù)學分析模型,為測試者提供可靠、精準、穩(wěn)定的分析結(jié)果。
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