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產(chǎn)品型號(hào)NiComp380ZLS
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2022-07-18 11:08:20瀏覽次數(shù):4863次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線(xiàn)AccuSizer780AD自動(dòng)稀釋單顆粒激光檢測(cè)粒度儀
NiComp380ZLS粒度及Zeta電位檢測(cè)分析儀
NiComp380DLS動(dòng)態(tài)光散射粒度檢測(cè)分析儀
NiComp380ZLS照片
粒度及Zeta電位檢測(cè)分析儀NiComp380ZLS,美國(guó)PSS公司粒度儀。上海拜力生物公司一級(jí)代理商。美國(guó)PSS公司自1978年創(chuàng)建以來(lái),一直在為顆粒檢測(cè)分析領(lǐng)域提供技術(shù)的儀器設(shè)備。
PSS公司簡(jiǎn)介:美國(guó)PSS公司自1978年創(chuàng)建以來(lái),一直在為顆粒檢測(cè)分析領(lǐng)域提供技術(shù)的儀器設(shè)備。我們始終把用戶(hù)放在*,一如既往地致力于為用戶(hù)解決顆粒檢測(cè)分析和Zeta電位測(cè)定的各種疑難問(wèn)題。無(wú)論是濕法還是干法檢測(cè)分析,也無(wú)論是實(shí)驗(yàn)室研究還是生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)在線(xiàn)檢測(cè)/監(jiān)測(cè)分析,我們都能提供*的模塊化儀器設(shè)備滿(mǎn)足用戶(hù)的不同需求。
粒度及Zeta電位檢測(cè)分析儀NiComp380ZLS產(chǎn)品簡(jiǎn)介:NiComp 380 ZLS 采用*的設(shè)計(jì)理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),充分有效地融合了動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)技術(shù),即可以多角度(步長(zhǎng)0.9°)檢測(cè)分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度測(cè)量Zeta電位。
粒度檢測(cè)分析復(fù)合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術(shù)的 NiComp 無(wú)約束自由擬合多峰算法,對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì),其優(yōu)異的解析度及重現(xiàn)性是其他同類(lèi)產(chǎn)品*的。
NiComp 380 ZLS通過(guò)檢測(cè)分析膠體顆粒的電泳遷移率測(cè)量Zeta電位。Zeta電位是對(duì)顆粒之間相互排斥或吸引力的強(qiáng)度的度量,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo),Zeta電位(正或負(fù))越高,體系越穩(wěn)定。
整機(jī)采用模塊化設(shè)計(jì),功能擴(kuò)展靈活方便。*的樣品池設(shè)計(jì)使得伺樣方便快捷、用樣量少,無(wú)須進(jìn)行繁瑣的樣品池校準(zhǔn)。
粒度及Zeta電位檢測(cè)分析儀NiComp380ZLS特別介紹:380ZLS configuration
原產(chǎn)地供應(yīng)商 | 美國(guó)/ PARTICLE SIZING SYSTEMS,INC | |
型號(hào) | 數(shù)量 | 規(guī)格描述 |
380ZLS | 1SET | NICOMP 380 Submicron Particle Sizer Nicomp 380 微粒粒徑檢測(cè)儀 |
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| Size range:0.5nm to 6 microns. 粒徑范圍:0.5納米 – 6微米。 |
Optics unit:15-mW laser (see alternate laser diode option below). 激光光源:15毫瓦大功率固體紅色發(fā)光二極管 (功率及波長(zhǎng)可選)。 | ||
Detector: High-gain PMT detector. 探測(cè)器:高靈度PMT探測(cè)器。 | ||
Size measurement angle:90° 檢測(cè)角度:90° | ||
Fast, 32-bit digital autocorrelator, new DSP design (4 x T.I. C31). 快速的32位數(shù)字自動(dòng)相關(guān)器,數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)(4 x T.I. C31) 。 | ||
Internal analysis computer: fast DSP design (T.I. C31). 內(nèi)置分析計(jì)算器: 高速數(shù)字信息處理系統(tǒng)(T.I. C31) 。 | ||
Analysis method :Classical GAUSSIAN and NICOMP Proprietary Multimodal Analysis. 分析方法:經(jīng)典的高斯分布和多峰模式的NICOMP分布。 | ||
Time-history display/printout, three weighting options. 可顯示/打印粒徑-時(shí)間分布圖,并提供Intensity、Volume和Number三種分布圖。 | ||
1SET | Zeta Potential Analyzer Subsystem Zeta 電位檢測(cè)器 | |
| Zeta Potential measurement range: 10nm to15 microns . Zeta電位檢測(cè)范圍:10納米 – 15微米。 | |
Heterodyne electrophoretic dynamic light scattering. 外差電泳動(dòng)態(tài)光散射。 | ||
1024-channel, 32-bit digital autocorrelator (DSP-based, 4 x T.I. C31). 1024條通道,32位數(shù)字自相關(guān)器(基于數(shù)字信號(hào)處理,4 x T.I. C31)。 | ||
Doppler-shifted power spectrum obtained by FFT analysis. FFT分析獲得的多普勒轉(zhuǎn)換能譜。 | ||
Low-angle measurement (19deg.) –minimizes broadening due to diffusion. 低角度測(cè)量(19 deg.)擴(kuò)散減小到zui小值。 | ||
Electric field range:0.1 – 200 V / cm. 場(chǎng)強(qiáng)范圍:0.1 – 200 伏 / 厘米。 | ||
Temperature range: 10 to 75 deg C (reg. to+0.3 deg C). 溫度范圍:5 to 75 deg C (reg. to+0.3 deg C) 。 | ||
Solid palladium electrode assembly (disposable cuvets), no alignment/calibration required. 鈀電極裝置(可重復(fù)使用的石英樣品池),無(wú)需校正。 | ||
1SET | Phase Analyze Light Scattering System PALS技術(shù)裝置 | |
| Both stably tested in liquid and organic solvent. 在水劑和有機(jī)相中進(jìn)行穩(wěn)定的電位檢測(cè)。 |
主要特點(diǎn):
△*的樣品池設(shè)計(jì),無(wú)需進(jìn)行繁瑣的樣品池校正
△一次性樣品池,制樣方便快捷,避免樣品交叉污染
△快速自動(dòng)分析,少于1分鐘
△時(shí)間歷史曲線(xiàn),可獲得*測(cè)量時(shí)間
△流通樣品池,可自動(dòng)稀釋或自動(dòng)滴定
△高精度步進(jìn)電機(jī)與創(chuàng)新的光纖技術(shù)相結(jié)合,無(wú)需任何人工校準(zhǔn)和定位
△自動(dòng)基線(xiàn)檢測(cè),全程掃描跟蹤
△基于光纖技術(shù)的多角度粒度檢測(cè)分析,檢測(cè)角范圍10 ~ 175度(步長(zhǎng)0.9度)
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