胡敏
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AP-LF-16FB1
愛佩科技
生產(chǎn)商
東莞市
更新時(shí)間:2023-05-05 15:12:27瀏覽次數(shù):734次
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電子產(chǎn)品高溫老化房 環(huán)境試驗(yàn)箱
電子產(chǎn)品老化房 環(huán)境試驗(yàn)箱
電子產(chǎn)品高溫老化房 環(huán)境試驗(yàn)箱
產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 尺寸 | 根據(jù)客戶需求設(shè)計(jì) |
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電子產(chǎn)品高溫老化房是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品(如:計(jì)算機(jī)整機(jī),顯示器,終端機(jī),車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程,該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、計(jì)算機(jī)、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等,通過此測(cè)試程序可檢杳出不良品或不良件,是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段。
設(shè)備特點(diǎn)
●提供大型零件、半成品、成品的高溫老化測(cè)試。
●完整的安全保護(hù)裝置。
● 超溫排風(fēng)機(jī)由變頻器控制其運(yùn)轉(zhuǎn),當(dāng)溫度下降至設(shè)定值下*時(shí)風(fēng)機(jī)停止排風(fēng),排風(fēng)系統(tǒng)同時(shí)關(guān)閉。循環(huán)系統(tǒng)在老化產(chǎn)品的過程中始終保持循環(huán)狀態(tài),以保證溫度均衡。整套系統(tǒng)動(dòng)作具有性能穩(wěn)定,控制、溫度波動(dòng)小,均衡度高、噪音小等特點(diǎn)。
電子產(chǎn)品高溫老化房技術(shù)參數(shù):
設(shè)備尺寸:內(nèi)箱尺寸:W(3700)mm × H( 1900)mm × D( 2300)mm;
外型尺寸(約):W(3900)mm × H(2200)mm × D( 2850)mm,不含外置儀表架;
溫度范圍:RT~60 ℃ (測(cè)試產(chǎn)品發(fā)熱量300W ,表面溫度55℃)
(單/雙)開門尺寸:雙開門:W(1050+1050)mm×H1900mm;( 可依客戶要求選擇或定制)
滿足標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb
GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn)
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)
溫度波動(dòng):溫度:≤±0.5℃
溫度均勻度:溫度:≤±3.0℃
溫度升溫時(shí)間:約40min
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