陳霞
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當前位置：秋山科技（東莞）有限公司>>其他設(shè)備>>探傷儀>> ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1
產(chǎn)品型號
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地東莞市
更新時間：2024-05-21 15:00:12瀏覽次數(shù)：655次
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陳霞
micro-fix渦流金屬熱處理質(zhì)量探傷儀MSK-200 無損探傷檢測
micro-fix丸粒表面處理探傷儀MSK-200 無損探傷檢測設(shè)備
micro-fix金屬熱處理在線探傷儀MSK-200 無損探傷檢測設(shè)備
micro-fix金屬熱處理質(zhì)檢儀MSK-200 無損探傷檢測設(shè)備
| 產(chǎn)地 | 進口 | 類型 | 無損傷 |
|---|
ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1
"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光（波長400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設(shè)備。通過本設(shè)備可以實現(xiàn)快速、準確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。
ceramicforum晶片內(nèi)位錯檢測儀CS-1
產(chǎn)品特長 |
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可測量材料 |
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測試效果不佳材料 | ?無可視光透視性材料：Si、GaAs等 |
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