Ux-320 鍍層膜厚分析X射線熒光光譜儀是華唯公司經(jīng)過3年研發(fā),專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型,三重射線防護系統(tǒng);人性化操作界面;華唯*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可不用標準樣品標定,即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析。精心設(shè)計的開放式工作曲線功能,特別適用于工藝復(fù)雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。
X射線鍍層測厚儀性能優(yōu)勢 |
1.*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件,可不用標準樣品標定,即對樣品鍍層膜厚進行測試 2.除可對金屬鍍層測試外,還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行精確測量,開創(chuàng)了XRF對鍍層測厚的全面技術(shù) 3.軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動設(shè)定光管功率,既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能,大幅提高測量精度 4.業(yè)內(nèi)*提供開放式工作曲線標定平臺,可為每家用戶量身定做*的鍍層分析工作曲線 5.三重射線防護(軟件、硬件、迷宮設(shè)計),確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害 6.儀器外部對樣品微調(diào)設(shè)計,降低及防止樣品放置好后關(guān)閉樣品蓋產(chǎn)生振動而使測試位置發(fā)生變化導(dǎo)致的測試不準確性 7.可根據(jù)用戶要求自行定制測試報告輸出格式(Excel、PDF等),符合工廠多種統(tǒng)計及格式要求 8.業(yè)內(nèi)*家對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法,*取代金相顯微鏡技術(shù)在該行業(yè)的應(yīng)用 9.軟件對多次測試結(jié)果進行統(tǒng)計分析功能 10.X射線鍍層測厚儀業(yè)內(nèi)*家既可以測試鍍層厚度,又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF |