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詳細(xì)摘要： Agilent N8974A噪聲系數(shù)測(cè)試儀是高性能的噪聲系數(shù)分析儀，旨在使快速，精確和可重復(fù)的噪聲系數(shù)測(cè)量。

詳細(xì)摘要： Agilent N4000A噪聲系數(shù)測(cè)試儀主要特性與技術(shù)指標(biāo)超噪比（ENR）電子存儲(chǔ)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，降低了用戶錯(cuò)誤的機(jī)會(huì)

詳細(xì)摘要： AgilentE5501B噪聲系數(shù)測(cè)試儀可提供全面的功能、靈活性和通用性，滿足研發(fā)工程師不斷變化和日益苛刻的需求。 Agilent E5501B 系列解決方案以...

詳細(xì)摘要： 噪聲系數(shù)測(cè)試儀頻率列表工作方式，使用戶能回避在測(cè)量期間的一些已知無用頻率點(diǎn)，或用來巧妙地提高測(cè)量速度。

詳細(xì)摘要： 射頻LCR測(cè)試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。

詳細(xì)摘要： LCR測(cè)試儀測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz 量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔 具有測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能 高速...