產(chǎn)品介紹
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布魯克TI980納米壓痕儀/硬度/彈性模量系統(tǒng)
*的Performech® II控制模塊和電子設(shè)計(jì)
高性能的高速閉環(huán)控制業(yè)界前者的噪音控制
集成的帶輸入/輸出信號(hào)的多參數(shù)控制五百倍于前代產(chǎn)品的力學(xué)測(cè)試速度
多維度測(cè)量耦合
充分優(yōu)化各個(gè)傳感器的特質(zhì)適用不同測(cè)量需要,通過多維傳感器的選擇實(shí)現(xiàn)
不同測(cè)量間的無縫耦合多種有效的測(cè)試模塊配置,包括納米/微米壓痕、納米劃痕、納米摩擦磨損、高分辨原位掃描探針顯微鏡成像、動(dòng)態(tài)納米壓痕和高速力學(xué)性能成像等。
豐富的系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)分析軟件
TriboScan(TM) 10提供了創(chuàng)新性的控制功能,包括XPM超快納米壓痕,SPM+原位掃描探針顯微鏡成像,動(dòng)態(tài)表面搜索,全自動(dòng)系統(tǒng)校準(zhǔn)和創(chuàng)新的測(cè)試程序。
Tribo iQ (TM)提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理、分析和畫圖功能,并具有可編程數(shù)據(jù)分析模塊和自動(dòng)生成的定制測(cè)試報(bào)告功能。
極大的靈活性和具有前瞻性的表征潛質(zhì)
布魯克納米壓痕儀Ti 980提供了多級(jí)別的防護(hù)罩提供了*環(huán)境隔絕能力,并具有用于將來的升級(jí)可擴(kuò)展接口樣品臺(tái)提供了機(jī)械、磁性和真空固定方式,適用于各種樣品。
始終處于材料研究和開發(fā)的前沿
海思創(chuàng)從1992年起就在范圍內(nèi)處于納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征的前進(jìn)位置。通過與研究人員和工程師的持續(xù)合作,布魯克理解您的*需求,通過創(chuàng)新的技術(shù)幫助您解決當(dāng)下和將來面臨的材料挑戰(zhàn)。海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter是這些努力的集大成者。它提供了的性能,能滿足您持續(xù)更新的材料表征需求。
簡潔、高速的自動(dòng)控制——系統(tǒng)自動(dòng)校正使得每次測(cè)試都無懈可擊
針尖面積函數(shù)自動(dòng)校正
傳感器自動(dòng)校正
壓針和光學(xué)系統(tǒng)校正
自動(dòng)測(cè)試程序
快速、多樣品自動(dòng)測(cè)試功能實(shí)現(xiàn)高通量表征
智能化自動(dòng)程序確保用戶選擇合適的針尖
高分辨多尺度成像結(jié)合全尺寸樣品的光學(xué)搜索,極大簡化測(cè)試流程
低的噪音水平,實(shí)現(xiàn)真正納米尺度表征
從微米到幾個(gè)納米的多尺度測(cè)量納牛級(jí)別的力噪音水平和小于90%原子直徑的位移測(cè)量能力,實(shí)現(xiàn)幾乎任何材料的定量表征
系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)超過6個(gè)數(shù)量級(jí)的力測(cè)量和10個(gè)數(shù)量級(jí)的位移測(cè)量
力和位移噪音水平保證在客戶現(xiàn)場(chǎng)安裝時(shí)實(shí)現(xiàn)
快的反饋控制速率
布魯克納米壓痕儀Ti 980精確控制測(cè)試過程實(shí)現(xiàn)大精度、可信度和重復(fù)性的真正定量納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征特殊的力和位移反饋控制方法用于海思創(chuàng)的傳感器-專門針對(duì)海思創(chuàng)傳感器物理特性開發(fā)的力與位移反饋控制算法每隔0.013毫秒實(shí)現(xiàn)一次完整反饋控制,使得系統(tǒng)能測(cè)量快速瞬態(tài)過程,并對(duì)其作出反饋,真正實(shí)現(xiàn)用戶的測(cè)試意圖-每隔0.013毫秒實(shí)現(xiàn)一次完整的感知-分析-控制的循環(huán),使得系統(tǒng)能對(duì)瞬態(tài)過程進(jìn)行測(cè)量與反饋,以此重現(xiàn)用戶定義的測(cè)試方式
布魯克TI980納米壓痕儀/硬度/彈性模量系統(tǒng)
強(qiáng)大的測(cè)試模塊配置,大化您的表征潛能
自下而上的*設(shè)計(jì)提供了世界zui xian jin的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
實(shí)現(xiàn)豐富的潛在測(cè)試能力
Performech® II高級(jí)控制模塊
精確控制納米力學(xué)測(cè)試過程
業(yè)界前進(jìn)的力和位移噪音水平實(shí)現(xiàn)高的測(cè)量精度和重復(fù)性超快反饋控制算法提供整個(gè)測(cè)試過程的精確控制專為各種不同測(cè)試而開發(fā)的一整套高性能傳感器
多達(dá)24個(gè)通道的數(shù)據(jù)采集能力,每個(gè)通道都能同時(shí)達(dá)到1.2MHz采樣率
多個(gè)測(cè)試頭的耦合——一整套傳感器適用于各種測(cè)試任務(wù)
任意兩個(gè)測(cè)頭之間無縫連接
標(biāo)配二維傳感器和nanoDMA III傳感器實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的多種測(cè)試功能和高性能
多種有效的測(cè)試模塊配置
納米壓痕:硬度,模量,蠕變,應(yīng)力弛豫,斷裂韌性、高速力學(xué)性能成像
納米摩擦:薄膜結(jié)合力,摩擦系數(shù),抗劃擦性能,磨損
掃描探針顯微鏡成像:形貌和梯度成像,納米級(jí)別定位精度,摩擦
力成像動(dòng)態(tài)納米壓痕:隨著深度連續(xù)測(cè)量硬度和模量,存儲(chǔ)模量,損失模量,損耗角正切